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[仿真讨论] 高速PCB设计—选材原则

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发表于 2016-2-1 16:40 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 樱桃海弥 于 2016-2-16 15:04 编辑 % m9 H! D/ ?" }0 i+ {, V

3 k, {* R9 o6 g4 E* B  z. _
前言
       随着通讯行业龙头对100G服务基站的开发建设与推广,数字电路的运行速度将达到100Gbit/s,未来对高速背板的信号传输能力要求越来越高,相应市场需求逐年增加。受到材料性能的限制,当前100Gbit/s的信号传输需要分为10条10Gbit/s通道或更高传输速度的4条25Gbit/s通道。由于信号在传输线路衰减、以及0TN和FEC消耗,如图1所示,一个信号链路通道示意图,包括TX发射源、Channel载体通道、RX接收器。为保证信号完整性对链路通道三组分进行的规范要求。( M) D9 r( a8 J4 c' j& ~2 }
       本节主要从高速PCB信号传输对板材的选择要求,以及高速通道设计与生产管控等方面进行展开。
9 z! T! y. q$ [) l# g( W, H, E6 q' Y
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6 H7 |. [4 B/ v! b
实验仪器与材料

仪器:光学轮廓仪(Optical Profiler—Contour GT-K1)、万能材料测试仪(Material TestingMachine)、微电阻仪(Ohm Meter)、安捷伦网络分析仪(Agilent Network Analyzer-E5071C)。

材料:VLP、RTF、STD铜箔;高速材料A(聚苯醛复合树脂体系)、常规材料C(FR4)、PI板材。
实验过程
        实验一、分别使用材料A(Dk=3.2)和C(Dk=4)设计阻抗为50ohm的单端传输线,线长都为60mm,通过网分测量等长线的延时差异。
        实验二、使用材料A分配配备0.5OZ的VLP、RTF、STD铜箔压合成4层线路板,通过TRL测量方法对比相同线宽、结构下的微带线和带状线的损耗差异。

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结果与讨论
选料原则
数字信号在传输中的速度,指单位时间传输数字信号码(bit)的数量多少,又称单位时间内信号交换量。其中信号交换的快慢取决于发射源发射信号的频率,信号传输的速度受到传输媒介的介电常数影响。因此,通常所描述的高频高速板体现在两个方面,需要对高频与高速两个概念区分开来,高频指信号码元变换频率快、周期短,高速指信号在链路通道的传输速度快。而二者又相互关联,一串高频信号在传输中,信号与信号时间差(周期)非常短,受到传输速度和延时的影响,传输速度低而发生频率高易出现分辨率不足造成EMI现象。图2是常规板材C与高速板材A的根据麦克斯韦电磁波传输关系,如公式(1)可知,材料介电常数越小高速信号传输速度越快。因此,高速PCB需选择介电常数小的板材。
+ a% ^" L: `7 X" {
其中,v为传输速度,m/s;c为光速,3*108m/s;εr为传输介质介电常数。

0 j/ H0 C& m, C5 z9 s2 o1 e5 n
数字信号一般使用NRZ码,一个周期包含两个bit码元。为实现25Gbit/s高速信号传输,发射源的频率将达到12.5GHz。为满足链路通道的信号完整性,需要控制信号的衰减、反射、辐射等等。其中信号的衰减主要受传输损耗决定的,频率与介质损耗存在如公式(2)所示关系,在一定条件下,频率越高损耗越大。一般常规材料不能满足高频板的要求,要求使用低损耗或低逸散因子的板材,减弱信号衰减幅度。从公式(2)中还可以看出,介电常数越小其介质损耗越小。因此,高频高速材料需要选择低介电常数、低逸散因子的材料。
带状线的介质损耗有以下公式:
- Y1 _6 q4 g7 e& z8 k! [- |

8 N( G. t* e; |- i  a9 ]
其中,f为信号传输频率,εr为介电常数,tanδ为介质损耗因子(损耗正切角)。
根据经典损耗理论,由于趋肤效应的存在,需要考虑铜箔表面粗糙度对导损的影响。总损耗计算公式修正如下:
( s1 p/ O7 a* i8 i' [% J
Hammerstad方程是解释传输线表面的粗糙度对损耗影响的经典模型,将光滑导体的信号损耗乘以系数,这个系数称之为Hammerstad系数,公式如下所示:

. P5 G: i- V/ g6 t  R0 e
其中,Ksr为趋肤系数,hRMS为表面粗糙高度的均方根,δ为趋肤深度,at为总损耗,ac为导损,ad为介损。

+ |2 d* z) K, K# R* L9 C8 Q* W) b
如图4所示,在高频作用的影响,导体周围环绕磁线和向外发散的电场,作为信号载体的电子随电场富集在导体表面,呈现趋肤效应。大量电子富集在导体表面,其分布区域受导体表面粗糙度的影响,如公式(3)~(5),粗糙度越大Hammerstad系数越大,导体损耗越大。对比VLP、RTF、STD(hRMS值分别为0.664、0.887、1.745μm)在相同材料和设计下,总损耗随频率变化趋势如图3所示。同时,根据公式(5)和图5可知,频率越高趋肤深度越小,电子富集密度越大,损耗系数越大。因此,高频高速信号传输需要选择低粗糙度铜箔材料。
加工要求
高频高速板除对材料介电常数和损耗因子有明确要求外,还需要对材料的电性能、热性能、可靠性、可加工性有很高的要求。根据布线密度和传输频率带宽等要求,需选择合适的材料设计叠层。合理的设计可以减少生产加工难点、提高性能并保证产品可靠性性。选择合适的板材需要从以下几个方面进行衡量:
可制造性:板材本身的加工制作难度对产品品质影响非常大,诸如钻孔机械韧(粘)性、镭射钻孔稳定性、毛刺、粉尘采用常规高锰酸钾除胶或使用等离子除胶;多次压合性能与耐热情况;最小pitch与抗CAF能力;耐酸碱性;流胶能力;吸水率、热膨胀系数、塞孔可靠性和防火等级等。
电气稳定性:高频高速板对链路各点的阻抗一致性要求非常高,需要选择低且稳定的low Dk和low Df以及具有低色散的材料;对来料厚度与含胶量公差控制更严,同时对树脂+玻纤体系的Dk/Df分布均匀性有了更高的要求。因PP片是由网状的玻纤和树脂组成,形成玻纤重叠区域和纯树脂区域,布线分布位置区域的Dk/Df差异,造成差分对链路阻抗稳定性以及两个线之间的延时差异。因此,不仅要求材料介电常数分布均匀性,还要求材料介电性能有高的稳定性,如介电性能随环境和频率改变的变化系数小。
制作优化
为了避免玻纤效应造成Dk/Df不一致性,可以选择玻纤的Dk值与树脂的Dk值接近的物料组成的半固化片,如e-glass玻纤配改性环氧树脂;为避免玻纤网洞过大造成介电参数分布不均,可选择如图6所示的扁平小网洞玻纤。如图7所示,当差分线分布在介电常数存在差异时易出现Skew偏移失真。为避免布线与玻纤走向平行容易出现Skew现象,可采用图形旋转设计;对于超大背板,由于加工尺寸限制,也可使用开料旋转的方法制作。
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/ R3 j8 k4 b) G( y
小结
根据对高速板材的选料要求,可以得出以下几点结论:
1、高速PCB需使用低介电常数和低损耗的板材;
2、对来料均匀性进行监控,保证符合IPC-Ⅱ级标准;
3、优先选择低轮廓铜箔和开纤布材料或进行图形旋转措施。

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发表于 2016-2-27 22:48 来自手机 | 只看该作者
学习了学习

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发表于 2016-3-7 13:25 | 只看该作者

5 N, R1 s% H+ O! ?! NCPU端的Vswing很小,使得CPU端的数据margin很小或者fail。每个channel接两根DR的UDIMM,DIMM端的drvier strengthen已经是最强(34ohm),有什么方法能使CPU端的Vswing变大,需要找DIMM厂家将DIMM的drvier strengthen再加更强的step吗?或者还有其他方法吗?CPU端的ODT已经调高

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发表于 2016-5-22 17:24 | 只看该作者
学习了  真的是好资料  讲的很清楚了然
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