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相同阻抗的信号线,阻抗线宽不同,对信号有哪些影响?

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发表于 2015-3-26 23:23 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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在PCB设计中,叠层评估阻抗,不同的方案会有不同的线宽,现在有些问题不清楚,如下,希望能够得到比较广泛和系统的解释,谢谢!
+ e3 V7 Y/ F- N( H
相同阻抗的信号线,线宽比较大的和线宽比较小的阻抗线,对信号有什么影响?与信号速率和走线长度有什么样的对应关系?

. k6 a% \3 h& |  S, F8 L
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发表于 2015-4-1 14:10 | 只看该作者
若华110 发表于 2015-3-30 11:49- e* v" \3 @; J* p4 @
1.PCB设计方面:线宽不同,走线难易度不同,阻抗控制难易度不同,外界对阻抗的影响大小不同。走线的带宽不 ...
7 Q1 f; d7 a5 ^: D1 y" U: L
补充一点,铜损和介质损耗在不同频段内还是交替上升的。
. \7 j. J: p! X  `5 G. m

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发表于 2015-3-30 11:49 | 只看该作者
1.PCB设计方面:线宽不同,走线难易度不同,阻抗控制难易度不同,外界对阻抗的影响大小不同。走线的带宽不同,损耗不同。     这些往往和具体的产品相关  和走线的输入输出IC及连接器有关。
5 r+ o, |+ l0 T6 p1 R, U; p$ t2 I   
/ m3 U! k0 l! T) |, I6 }! t2 z6 T. q2 C7 m7 w6 n% {
2.加工制作:加工制作难度不同,工艺影响及要求不同(粗糙度  趋肤效应 表面处理)。 具体的产品就会限制层叠、工艺、层数和材料。这些又会反过来影响走线的性能
! @9 G. r' S6 x; r

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补充一点,铜损和介质损耗在不同频段内还是交替上升的。  详情 回复 发表于 2015-4-1 14:10

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 楼主| 发表于 2015-3-28 07:22 | 只看该作者
菩提老树 发表于 2015-3-27 09:03
) }6 D6 r& x' d2 \6 n楼主这个问题应该是很多人都想知道的,线宽比较大,在相同条件下,其损耗会比较小,但是同时会带来布线空间 ...

% }: a6 r  ^1 R; Q2 P谢谢版主,是否有相关的量化的数据,分享一下啊,或者推荐一些相关的资料7 @7 r6 {% c0 D  u& z2 B
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发表于 2015-3-27 09:03 | 只看该作者
楼主这个问题应该是很多人都想知道的,线宽比较大,在相同条件下,其损耗会比较小,但是同时会带来布线空间的问题,同样,其受到外界的干扰的可能性也会增加。

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出来就要数据结论,可以利用仿真软件把大致的趋势可以仿真出来啊。  详情 回复 发表于 2015-4-2 09:21
谢谢版主,是否有相关的量化的数据,分享一下啊,或者推荐一些相关的资料;  详情 回复 发表于 2015-3-28 07:22

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发表于 2015-3-27 13:31 | 只看该作者
速率越高影响越大,长度越长总的损耗就大

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谢谢回复,对于我们常见的设计,不知是否有量化的数据啊  详情 回复 发表于 2015-3-28 07:23

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 楼主| 发表于 2015-3-28 07:23 | 只看该作者
True 发表于 2015-3-27 13:31/ f& @6 r  g7 i, r1 ?
速率越高影响越大,长度越长总的损耗就大

( K) S: i- x6 r4 \谢谢回复,对于我们常见的设计,不知是否有量化的数据啊
5 c/ O9 I& g, W

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所用的板材不一样,差别也不一样,常用的FR4板在一般的频率上,差1mil,插损差10%左右。  详情 回复 发表于 2015-3-28 11:43
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发表于 2015-3-28 09:31 | 只看该作者
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发表于 2015-3-28 11:43 | 只看该作者
风刃 发表于 2015-3-28 07:23- X$ q8 s- x" t5 W
谢谢回复,对于我们常见的设计,不知是否有量化的数据啊

9 z- e, u1 @/ ^( D  ]! C4 I  H所用的板材不一样,差别也不一样,常用的FR4板在一般的频率上,差1mil,插损差10%左右。
' [8 F- h& w9 B; n& ^5 @

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有相关的书籍或者文档资料推荐一下么?  详情 回复 发表于 2015-3-28 19:23

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 楼主| 发表于 2015-3-28 19:23 | 只看该作者
True 发表于 2015-3-28 11:433 \+ t  r( T2 t- x! [. K
所用的板材不一样,差别也不一样,常用的FR4板在一般的频率上,差1mil,插损差10%左右。
& K9 x8 q% |% S- L
有相关的书籍或者文档资料推荐一下么?+ o2 n6 h& b5 N4 m% w

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你说的这些问题,可以找材料厂家要测试数据。  详情 回复 发表于 2015-3-30 09:22
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发表于 2015-3-30 09:22 | 只看该作者
风刃 发表于 2015-3-28 19:23  C; I& Z  `, Z) j* ~- A! d
有相关的书籍或者文档资料推荐一下么?

: ^  Z. W9 i( \5 U你说的这些问题,可以找材料厂家要测试数据。; {8 i; m6 F3 ?. \

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发表于 2015-3-30 09:46 | 只看该作者
我们提供任意基材、叠构、线宽参数下阻抗、损耗仿真工具

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发表于 2015-4-1 17:54 | 只看该作者
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发表于 2015-4-1 18:15 | 只看该作者
主要影响是加工误差带来特性阻抗误差不同,长度主要是衰减,数字电路线宽不能太宽,容性会较大

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有没有测试卷数据分享下啊,版主。  详情 回复 发表于 2015-4-3 13:30

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发表于 2015-4-2 09:21 | 只看该作者
菩提老树 发表于 2015-3-27 09:030 H2 A# ^" _2 Y+ a) C/ a/ w
楼主这个问题应该是很多人都想知道的,线宽比较大,在相同条件下,其损耗会比较小,但是同时会带来布线空间 ...
! v' a7 Y  ?2 x  M, J
出来就要数据结论,可以利用仿真软件把大致的趋势可以仿真出来啊。5 M5 |! g' \# J
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