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[仿真讨论] 使用IBIS仿真DDR读信号的问题(关于pin和die上波形的区别)

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发表于 2014-4-9 15:45 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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新人向大家问好!
: s- V* [' {; r. q1 L- \' u; o. b5 E4 m- z9 H
最近我在用SigXplorer 仿真DDR3的DQS读信号,遇到了一点问题:
  g# X& n! o2 G
( O0 S2 Y* f' S- u1 H因为接收端在pin上和die上的波形几乎看不出区别,我感到有些奇怪(实测的波形有较大回沟所以想确定在die上是否还存在回沟),于是修改了主芯片IBIS的package一栏内的封装寄生参数(因为之前芯片厂商没有提供确切的封装参数),转换到dml文件,但是重新载入之后依然看不出差别。我想知道IBIS的寄生参数是如何影响在pin和die上的波形的,之前我看过一份资料说寄生参数产生的时延是主要因素,是这样吗?
- ]( z0 k7 ^9 a1 A, T
8 I0 g$ [. Z8 w& p/ Y还有麻烦大家帮我分析下我之前修改IBIS的思路是否有问题,有没有其它思路([Pin]内没有定义更多的封装寄生参数 ),比如c_comp,或者钳位/上下拉曲线等……
$ w+ k5 M# ~% b& `  l) O. g ( M& k' _  ^0 V, }) A! b& E
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发表于 2014-4-12 09:19 | 只看该作者
找主控芯片厂家要一下DDR接口封装内的等效线长或封装S参数,然后再分析!
; Y. B' S7 w! n0 o另:点对点互连,引脚上测到回勾一般情况没什么问题,内部应该没有。当然引起回勾还有其他因素,不了解具体情况很难下定论,猜测你的DDR接口应该能正常跑起来。

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发表于 2014-4-12 09:22 | 只看该作者
仿真实测不符?
8 F1 v$ r9 ~1 }: `9 |模型有问题只是一种可能。  p" L, ]* Q& y# D7 M! T
仿真方法对么?考虑了哪些因素?有没有软件处理不了的因素没有考虑到?
" j7 J# R2 l$ E9 {- ?+ K, C' v这个问题值得推敲。

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 楼主| 发表于 2014-4-12 16:54 | 只看该作者
于争 发表于 2014-4-12 09:19
$ ~) D5 k' a- O找主控芯片厂家要一下DDR接口封装内的等效线长或封装S参数,然后再分析!  Y: x# J5 M8 i5 n/ F' N
另:点对点互连,引脚上测到回勾 ...
3 a/ d4 N% d9 M- _; K
于博士您好!
4 d: ]1 B" G2 y/ K+ K感谢您的回复!
: g6 \  n  \' g
4 V  k2 J+ O0 c9 k6 Z, N# D3 z我们这个信号确实是点对点的互连,回沟也没有影响到DDR3 的功能,只是在仿真时看不到回沟(相比实测有更大的过冲),die和pin上的波形差异也几乎没有,即使在修改了package寄生参数之后也显示不出差别。, I3 X/ e2 d" A2 [) a* w

: I& ]$ s3 `3 p. K9 Y, B之前我们在测另一个DDR2模块时曾经用仿真再现了die和pin上波形的差异(同样是dq和DQS的读信号),而这次在DDR3模块上却不行(DDR2的主控芯片是Xilinx的FPGA,DDR3的是安霸的视频处理芯片),所以想分析一下原因,提高仿真精度。. F: W2 Y6 j& d" B; _* Z9 i! V
! H$ u/ A- u/ I* p9 Z6 ?8 F
关于仿真的方法,主要就是使用SigXplorer提取PCB上的拓扑,添加主芯片和DDR芯片的IBIS模型(转换为dml),设定输出端数据码型,得到时域的波形,主要关注的是链路上的反射,没有考虑板上其它信号的串扰和电源完整性。现在我个人是想先排除芯片IBIS模型的因素,但是我不确定IBIS上除了寄生参数外还有那些参数会影响die和pin上的波形差异。
7 @# [' B, Z1 [* O$ j
) x# U0 v: [/ k9 K- p# ]/ h1 o: x我还是这方面的新人,可能会忽略掉一些常识性的问题,望不吝赐教!
, S6 I" Y6 }: R# j4 T  ^: G, {

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发表于 2014-4-12 17:22 | 只看该作者
本帖最后由 0aijiuaile 于 2014-4-12 17:23 编辑
! `. d3 ~; z1 k+ A( T! C! v) c7 L' k
测试是否用夹具,探头有无去嵌,是否点测。。。测量的影响因素首先要考虑;通过测试来提高仿真精度,很难;更不用说只是用SQ软件;因为考虑的东西太少。
9 }& j. U8 J" B% c至于回沟,原因主要是寄生电感和电容引起或是测试引起,要判断下测试是否带宽受限。如果只是判断 PIN/DIE为何没有区别,也不仅仅是你封装参数影响决定的了的,还要看芯片BUFFER端的驱动速率,说到底,也是带宽问题。即:封装参数的LC参数的反射值与你芯片沿之间是否量级接近,如此而已。

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 楼主| 发表于 2014-4-14 11:26 | 只看该作者
0aijiuaile 发表于 2014-4-12 17:220 s6 D* W5 f6 F& p' n( e
测试是否用夹具,探头有无去嵌,是否点测。。。测量的影响因素首先要考虑;通过测试来提高仿真精度,很难; ...

3 M6 t, {# h# D7 U3 H3 C! X% @" X7 m感谢您的解答!8 n4 D. G! t9 U9 G8 z
% B9 Q) O. _# ?' H. F2 b0 F+ C
确实带宽的问题容易被忽略,我会按照您提供的思路去检查问题。
头像被屏蔽

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发表于 2014-4-27 22:29 | 只看该作者
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发表于 2014-5-4 17:52 | 只看该作者
huang34 发表于 2014-4-12 16:54& y( ]% u; S7 P) x) d. d
于博士您好!
* f5 w- g+ h; k* P8 v, l2 s感谢您的回复!

3 y. B  d, O4 \  L2 d' {1 d6 M: R修改模型寄生参数的方法是可行的,修改了以后一般是有差别的,除非是封装寄生参数超级小的那种,建议你用Hspice跑一下,另外仿真的时候叠层的一系列信息诸如介电常数、损耗角正切之类的问题一定要设置正确,另外还要看仿真的波形位置和测试点是否是同一个位置。

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 楼主| 发表于 2014-6-6 11:16 | 只看该作者
最近我再做了一些仿真,发现影响pin和die上波形差异的主要在c_comp值的大小,如果c_comp值比c_pin小很多,则pin和die上的波形差别不大。我想原因是die上阻抗的近似值是: L_pin/(c_comp+c_pin)的平方根, pin上阻抗的近似值是: L_pin/c_pin的平方根,不知道是不是这样?

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发表于 2014-12-24 11:02 | 只看该作者
于争 发表于 2014-4-12 09:22
  |$ ?% k8 b( {  j8 \* l+ d* ?% Z$ \# R仿真实测不符?
9 m( \  ^9 V% W7 _模型有问题只是一种可能。
7 \, g5 M/ Y8 e3 J& ?% B仿真方法对么?考虑了哪些因素?有没有软件处理不了的因素没有 ...
1 b" d, R0 x4 [4 I$ I
于博士,看你的大作以及在论坛里面的留言感觉你对SI仿真中的很多软件都比较熟悉;
4 S6 W/ I& C& o# ]3 ^* C0 Q, h想请问一下你有关于cadence 中的sigrity仿真软件中的PowerSI,SystemSI,PowerDC以及Speed2000熟悉不?
  {: z5 S) z+ X. F4 X
  A9 \+ N6 _6 |8 }* ?& J0 q目前在学习使用这方面的仿真工具,但是苦于很多文档只有操作流程却没有找到对应的完整仿真文件,所以想请问你有这方面的文档以及对应的仿真文件没有,我想自己把流程走一遍,加深自己的理解与掌握!0 v' _4 u$ z! k6 W' r
5 ]7 b4 m4 ~  ?) u4 X
有的话能否给我发一份:4 m, y4 s% V4 a; |, \
我的邮箱为:zjt_taotao@sina.com- Q& Q) O0 E# _/ T0 m: H8 F

" p9 n0 S$ y2 X3 N非常感谢啊!!!
0 A& ]' C# j2 A: M6 J: P

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发表于 2015-5-28 17:00 | 只看该作者
感謝分享~~
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