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tDS&tDH base 的选择问题

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发表于 2015-7-15 22:05 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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tDS&tDH base 的选择跟一个指标ACXXXmV,例如AC175,AC150,AC135, " V9 Y/ E5 g3 o* h
这些指标如何选择?
% ~5 X( l& f' {4 \有问过做内存的厂商,他说一般取AC175,具体也不知道为什么2 e* c7 A: S1 M- u" }6 P2 ^
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发表于 2015-7-15 23:03 | 只看该作者
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发表于 2015-7-16 00:18 | 只看该作者
AC175的要求是最严格的,如果能过,那么就没有任何问题

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发表于 2015-7-16 08:50 | 只看该作者
依照带宽来选择,若你不跑颗粒的最高带宽不需要那么高的要求。参考规格书。

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发表于 2015-7-17 11:47 | 只看该作者
以下所述,参考参考...* l( F# @, o+ C# y) {! x
根据经验,参考规格书。3 x) ]( l; T; F3 f  d2 L
这里所述之规格书是按照作动方式(向)而定。  o" O+ V5 W+ Z. j7 Q% q
例如Data-Bus/Write时,讯号由控制晶片传到DRAM端,此时按照DRAM的规格
, l% o3 Q( \* [$ |并决定AC/DC levels。如此,计算接收情况是否符合规格(软体会计算tDS/tDH馀裕)。6 p9 b# r+ K/ T- I7 i# P
反之亦然,在Read时,计算接收端(控制晶片)的接收情况,使用控制晶片接收时的规格# Z4 L- h2 h3 K0 ]8 K: K
(tDS/tDH)。/ h# T6 ?8 O+ G
只是,在一般状况下,厂商通常回覆按照Jedec规格,所以,Write/Read的tDS/tDH就变成一样了。
8 p  B3 i3 A# W所以,问清楚所使用的规格来设计与仿真,过与不过,皆有一定的准则判断。

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发表于 2015-9-7 22:38 | 只看该作者
这个和眼图测量有关
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