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EDA365电子工程师网»技术社区 › 电子技术社区 › SI/PI仿真论坛 › 使用ADS如何快速进行标准化测量？
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[ADS仿真] 使用ADS如何快速进行标准化测量？

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mengzhuhao

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发表于 2012-6-18 20:38 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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使用ADS如何快速进行标准化测量？
4 q5 F; T9 ^" A1 w, O% ^; u3 [/ e  N8 n. k

) I9 w$ M# ^, @- C3 C# o
( Q, i- |/ a7 h/ Q) n例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等，读写时序的逻辑控制1 V$ G! `0 z( H
7 Y9 J  p3 `$ k- p

( B; e& d) ?8 T9 N
2 j6 x! q7 R" v- m  F- S- x如果通过编程的方法实现自动化测量，有熟悉的朋友么？8 J; _4 A# k/ Z3 ?5 {0 c
# |0 S9 m+ [8 F/ g6 x2 L% C

$ J2 n9 [. X) y2 w+ {. w! ~/ v' `# W% H% D/ |7 e6 H
有那些思路、方法与例子呢？
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mengzhuhao

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2#
 楼主| 发表于 2012-6-19 10:27 | 只看该作者
搜了ads的help 里面有ddr2/3的kit，不过目前还不太会用 有熟悉的朋友吗

下载资料威望不够？点击查看获取威望的N种方法>>
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