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下面提供美国军方的一个失效率表:
4 m1 H4 \0 o; O9 L: `0 o# U 摘自[微处理器接口技术]1983.5版-315页
8 g, N, s( Q% ^9 v5 H5 b8 L/ j
8 I& P& c! w/ g 部件 ..................... 失效率(%/1000小时) + {9 F0 G" i( o- u+ |" ~1 d; Q* x( x
1.电容器 ................. 0.02 : O9 C3 K5 o! V) Z- H: ^
2.连接器接点 ............. 0.005 % \7 m; L# H! H7 I
3.二极管 ................. 0.013 ' i' r/ F* ?5 |! U
4.集成电路(SSI,MSI和LSD) . 0.015 # D x" [) o/ c: [9 x3 N7 [
5.石英晶体 ............... 0.05
# g5 n5 n) y" q, X) ~ 6.电阻 ................... 0.002 8 {6 j7 i6 D6 i) T8 n4 c+ H3 U" e- v
7.焊点 ................... 0.0002
2 l t5 @0 Y* C% Y# M8 X5 k0 U 8.变压器 ................. 0.5
9 V% k# X3 ?6 o, V; ` 9.晶体 ................... 0.04
' i5 |8 @ D7 e" [! Q 10.可变 ................... 0.01 + u4 l4 Z7 T0 A, X5 m- A0 i/ W
11.绕线接点 ............... 0.00002 ------------! 4 |! m r: p& @" n+ q
* C) f5 c5 n. q3 G1 `( b/ z) R
平均地看,某些部件的寿命长于另一些部件。
7 y8 e; u8 r2 j9 j3 K% U7 X 当然，这个表是假定了所有部件都是合理使用的。
8 }/ V6 h* |& l4 w 这些数字是根据对每种部件的大量样品进行加速寿命试验所得到的。 |
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发表于 2009-2-15 21:47
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