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[ADS仿真] 如果通过测到的s参数 反推出介电常数?

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发表于 2015-4-23 08:28 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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有好的工具或者方法吗,比较容易实现的
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发表于 2015-4-23 11:28 | 只看该作者
好难...似乎介电常数不一样也可以有近似的s参数的。
+ H2 R7 G. A- S1 G# }. A. y
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发表于 2015-4-28 10:57 | 只看该作者
赞同楼上说法,一样的阻抗可以有不同的结构,不同的介电常数可以实现一样的阻抗;不过,楼主可以测S参数,那你有没有PCB结构,固定的结构就可以根据阻抗推算节点常数,仅供参考
世界上有2种笨鸟,一种是自己刻苦修炼,笨鸟先飞;一种是趴在窝里下个蛋,让下一代先飞

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发表于 2015-4-28 11:25 | 只看该作者
通过S参数的相位延时,可以计算介电常数。Keysight不是有专门的计算方法吗?需要购买。

点评

这个很有意思,很好奇怎么算的. 我有一个疑问就是,单纯的S参数为矩阵形式,没有任何结构参数如何得到介电常数。 我是没用过这个工具啦,但我猜肯定是需要定义结构参数的,不然没法反推介电常数.  详情 回复 发表于 2015-5-6 09:30

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发表于 2015-4-28 12:28 | 只看该作者
应该是通过相位来求的

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发表于 2015-5-6 09:30 | 只看该作者
doya 发表于 2015-4-28 11:25
+ h, z4 r$ I% l, ~. C% ?通过S参数的相位延时,可以计算介电常数。Keysight不是有专门的计算方法吗?需要购买。

& ]. p' V% A, u+ B1 b3 w) K这个很有意思,很好奇怎么算的.# q4 k5 B6 r/ I+ E
我有一个疑问就是,单纯的S参数为矩阵形式,没有任何结构参数如何得到介电常数。8 \# `4 O" z0 s) e
我是没用过这个工具啦,但我猜肯定是需要定义结构参数的,不然没法反推介电常数.6 b% M. L; @' L

3 l: m: R, i( Z  M% h9 o+ o/ D6 W$ L, K8 s- P" t6 {2 b0 H

点评

一个S参数算不了,需要一个板上两个不同长度的传输线的两个S参数可以计算,以及长度差(当然这两条线的物理结构测试环境都要相同,不需要知道具体的线宽、铜厚这些信息);两个S参数可以得到相位差,就可以换算得到  详情 回复 发表于 2015-5-6 11:14
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发表于 2015-5-6 11:14 | 只看该作者
cousins 发表于 2015-5-6 09:30/ q7 B% p- |) `4 o# K0 X8 _( q
这个很有意思,很好奇怎么算的.
5 W5 o* U+ q; N0 j' L9 h我有一个疑问就是,单纯的S参数为矩阵形式,没有任何结构参数如何得到介 ...

  s7 d$ B  n9 p- m2 d一个S参数算不了,需要一个板上两个不同长度的传输线的两个S参数可以计算,以及长度差(当然这两条线的物理结构测试环境都要相同,不需要知道具体的线宽、铜厚这些信息);两个S参数可以得到相位差,就可以换算得到介电常数啊。

点评

你说两个不同长度相同结构的可以算那我觉得可行,因为相当于多了一组方程式,可以推导出来。  详情 回复 发表于 2015-5-6 12:13

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发表于 2015-5-6 12:13 | 只看该作者
doya 发表于 2015-5-6 11:14% ^; @: r# d' L% `( L' H
一个S参数算不了,需要一个板上两个不同长度的传输线的两个S参数可以计算,以及长度差(当然这两条线的物 ...

7 X& x; k; @1 h你说两个不同长度相同结构的可以算那我觉得可行,因为相当于多了一组方程式,可以推导出来。
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发表于 2015-6-1 19:59 | 只看该作者
另一根线的长度不能为0?

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发表于 2015-6-1 21:20 | 只看该作者
上面有人提到用测试的时延来推导常数,其实这个办法本身就存在很多的限制,其中最直接的一个问题就是你如何得到一个比较线性的相位值。很多因素都会造成插损的相位失真,一个回损过大就可能插损的相位的扭曲,而且要记住这个是用两段不同长度的传输线相减是不可能消除的。4 s+ Q% h$ T. U1 Q* P; m

& f/ T" s: @7 U% W7 X: i虽然S参数里的某些参数虽然可以相加减可以得到近似的结果,但是S参数毕竟是一个矩阵,不是简单的标量运算那么简单,想用这种方法得到时延差则对你的DUT特性要求极高,也许校准可能是个比较好的选择。

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发表于 2015-6-3 10:41 | 只看该作者
测试线长度的选取,线宽及角度的设计,或是测试SMA的设计都很重要,换言之测试所得的S参数的质量要求比较高,并不是随意两组测试的S参数都可以,甚至要做很多组测试线再挑选。
( C: I& ^+ j/ \' h" G( o不过楼上所说的比较线性的相位值我比较有疑问,据我的经验,哪怕回损过大插损的相位也是很线性的。但失真倒是有可能的,由于编织布以及绕线等因素可以直接影响到相位失真,但这是可以设计中规避的。
5 P8 {: ]) \! F3 m; S) q5 Y并且所得的Dk\Df,还需要使用TRL校准进行反向验证,这很重要。

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你可以自己再找一个烂一点的板子试试  详情 回复 发表于 2015-6-3 15:45

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发表于 2015-6-3 15:45 | 只看该作者
本帖最后由 阿笨 于 2015-6-3 15:46 编辑
0 l5 z: l4 P( E4 r. T" [' S: x
doya 发表于 2015-6-3 10:41- T% Y4 \3 B$ W& C6 ^! W
测试线长度的选取,线宽及角度的设计,或是测试SMA的设计都很重要,换言之测试所得的S参数的质量要求比较高 ...

/ E1 u. f- ?4 k. O& X你可以自己再找一个烂一些的板子试试6 B; g! ^9 c+ u* h3 O

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发表于 2015-6-4 07:02 | 只看该作者
好帖,过来学习一下!!
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