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在日常生活中，人们常常会碰到这些现象：晚上脱衣服睡觉时，黑暗中常听到噼啪的声响，而且伴有蓝光；见面握手时，手指刚一接触到对方，会突然感到指尖针刺般刺痛，令人大惊失色。”-- 以上内容摘自百度，我觉得写的还蛮生动，读起来身上不觉有种针刺的感觉 -_-！ 在空气干燥的季节里，脱衣服这个行为可能会产生600至15000V的静电电压，如果湿度为20％以下，电压甚至可以高达30kV，所以在此提醒大家：静电有风险，脱衣需谨慎。 1静电的产生以及测试现状 静电是物体表面的静止电荷，这也是“静”字的由来。物体在接触、摩擦、分离、电解等过程中，将发生电子或离子的转移，正电荷和负电荷在局部范围内失去平衡，就形成了静电。当物体表面的静电场梯度达到一定的程度，正电荷和负电荷发生中和，静电放电(ESD -Electro Static Discharge)现象就出现了。 静电和电子系统的关系，可以用两个字来表达：“破坏”。“据美国统计，美国电子行业部门每年因静电危害造成损失高达100亿美元，英国电子产品每年因静电造成的损失为20亿英镑，日本电子元器件的不合格品中不少于45％是因为静电造成的。”-- 以上数据摘自百度。而静电测试也一直是产品整机测试阶段中的风险控制点，原因在于这项测试很容易暴露缺陷，而且静电能量的泄放又和许多因素相关，处理起来比较复杂。 以往验证产品抗静电能力的途径是在标准静电实验室进行实测，在某个测试点位实施数次接触或空气放电，同时验证相关功能受到影响的程度。但如果追究以下问题如：在放电过程中，被测主板上的器件承受了多大的能量? 放置ESD器件前后，被保护器件承受的能量有多大的区别，ESD器件能否不焊接以节约产品成本? 物料替代时，看似两个参数很接近的ESD器件，哪一个的静电保护效果更优秀 ? 类似问题一时可能难以作出准确回答，原因归结于缺少定量测试的手段，如果能够进行此项测试 ： l 从产品开发上讲，测量主板上某颗芯片引脚的静电波形，对抗静电设计、产品可靠性验证以及分析静电导致器件损坏的情况将有指导意义。 l 从物料测试上讲，针对器件替换的情况，放电波形可以提供直观的对比，例如：峰值电压，能量泄放速度这些信息，进一步了解不同器件的保护效果。 本文主要阐述的就是测试静电放电电压波形的方法，以解决定量分析的问题。 2测试操作说明 2.1测试设备 9 v: S7 c" A; n
2.2测试环境实拍 环境1：测试ESD器件的静电放电电压波形
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环境2：测试产品主板在焊接ESD器件后，对应信号通路的静电放电电压波形。下图是CVBS信号通路，使用同轴线缆采集图中所示测试点的波形 2.3测试步骤 l 将ESD器件焊接在测试主板上。 l 主板和静电枪通过低阻通路完成共地。 l 使用同轴线缆连接ESD器件信号端和示波器输入通道。 l 静电枪放电同时将电压波形采集到示波器，然后观察波形以及测量参数值。 注意： l 主板走线、线缆、示波器输入通道都需要是50ohm阻抗，这避免了信号反射对波形的影响，使其能反映真实情况。 l 利用两级-20dB衰减器将信号幅度进行100:1衰减，来适应示波器输入通道的电压幅值要求，起到保护示波器的目的。
9 I/ i) R- k& H; y' J2 F8 k" ^ M4 b 3测试结果 3 y: _7 J) q+ |+ s
3.1型号为ESD5B5.0ST1G的ESD器件接触放电电压波形测试 ' j4 X N N o5 w+ t# v9 i
% {8 v% b8 Q6 K, x! M 放电电压+4kV 放电电压-4kV 3.2在ESD5B5.0ST1G的+8kV接触放电测试过程中，使用示波器的带宽限制功能，得到不同带宽条件下的测试结果 放电电压+8kV，带宽1GHz 放电电压+8kV，带宽350MHz 放电电压+8kV，带宽250MHz 3.3主板的CVBS通路在焊接/不焊接ESD5B5.0ST1G器件条件下的接触放电电压波形测试 焊接器件，放电电压+8kV 不焊接器件，放电电压+8kV 4测试结果分析 4.1从±4KV放电电压波形中观察特征 l 峰值电压的绝对值在50V左右，而经历峰值以后电压幅度迅速衰减到10V左右。 l 相比较+4kV的衰减速度更慢，在250nS以后衰减到0V，而在-4kV放电时这个过程只需要150nS。 4.2从示波器的带宽对测试结果的影响来评估对系统带宽的要求 相关文献中较少提到静电测试系统的带宽要求，仅在《IEC 61000-4-2-2008 》中的“B.4.2 Test equipment required for ESD generator calibration”即静电发生器的校准章节中有此说明：针对电流波形的采集，推荐示波器带宽≥2GHz。从该标准中给出的4kV接触放电电流波形中也可以发现，第一个上升沿只有1nS左右，因此需要特别注意到测试系统的带宽。 分别验证了示波器处于1GHz、350MHz、250MHz等3种带宽条件下的放电电压波形，如果仅从峰值电压测试结果上看，当带宽下降到250MHz时，测试数值明显降低了，可见已经不能满足要求。但从反映真实波形以及观察细节的角度出发，仍然建议使用更高带宽的示波器用于静电波形测试。 4.3从主板是否焊接ESD器件情况下的测试结果，验证器件对CVBS通路的静电保护作用 l 放电峰值电压降低，在焊接ESD器件后电压值衰减了10倍左右，约从700V下降到70V。 l 能量泄放速度加快，观察放电50nS后的电压值，不焊接器件时约从峰值的700V衰减到300V，百分比下降到42%；而在焊接器件后电压约从峰值的70V衰减到10V，百分比下降到14%。 5总结 利用这个测试系统捕获的静电放电电压波形，作为定量测试手段，在产品开发以及物料替代的验证测试过程中将体现出价值。但需要注意测试结果与测试环境关系很大，因此更适合在不同待测设备之间作横向对比，评估其差异。
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发表于 2016-8-29 11:07
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发表于 2016-12-12 00:32
