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各个SI软件提取的差分线的S参数比较

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发表于 2010-6-22 09:28 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 shark4685 于 2010-6-22 10:15 编辑
1 O" M- n& g1 I+ [
/ a/ P) A$ u  K) K! n8 K8 V论坛里的高手很多,但大家用SI的工具都不一样,为了验证各个软件提取差分线的s参数的精度,& |7 h0 |$ R* I3 q4 @, ^
: t; `- [+ l, R3 u
特请大家用不同的工具求解S 参数,来比较下。4 e1 n$ `* ~. u- \3 t1 f

' G- _$ U, y1 [  v3 A如大家有兴趣,可在后面贴出你使用的软件的及求解的S参数。
: L2 L6 r- V" b" e5 J

- a8 B& G' s. G% f$ E- k' `------------------------------------------------------------------------------------------------1 c2 F2 [  s4 J' X& g6 C1 R
求j差分的参数如下:
7 t4 `3 o1 U. T! ]/ j
! e- Y( Y$ P+ [" l " ^/ Z; @1 `4 I, ^1 b3 I
dHeight1=8mil % f5 ~2 J: P0 K0 I( g
9 p  q/ \% A5 E5 W6 V
dHeigth2=8mil / y# L3 e* v2 u# c7 K+ H! K0 {/ N
& t% {% Q! H& ?! N8 Q
dWidth=5mil , ~& F3 B5 F5 y
5 |9 I) s. V2 _' r/ g
dGap=9mil
0 t6 A. D; ~' v9 l% P) m0 z( G
* X$ d# @- r! ]$ |dThickness=1.2mil 8 @# f; m# }5 P$ v, M
8 ?8 }) A  ]" z7 `* e9 d3 b/ n
dLength=5000mil + `) i% S* Z( ?$ o% m6 ^/ e

1 p, |  |. u: X& w9 g+ ^er=4.3/ O& [( C) w" E* a

  ~# g1 l" i# z$ d: X% ?. Glosstangent=0.0171 Q/ E% P4 E% }; b" _- o

1 N. e8 {* e  Y5 Mmetal conductivity=57.6meg
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发表于 2011-8-2 22:56 | 只看该作者
本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑
4 e2 \4 j0 O& h+ f& R9 d- l0 O1 K; J7 @
回复 shark4685 的帖子/ Q, l( G$ G3 t

3 }) X, Z4 Z2 k7 C# q/ W! [% B兄台这个想法很好,
) A0 S. K+ P" a$ J8 `8 C5 Q& i但是如果要仿真到5~10GHz的频段,目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。
' t8 i8 K/ ^1 W高频的情况下需要考虑到
( V! s2 X* K8 R1 T1)skin effect和表面粗糙性,造成的电阻和电感的变化
/ e! p2 T' v0 p$ g3 s2)介质的频率相关性,造成的电容和电导的变化
3 o" ?! D! Q. k5 K8 ^7 r3)介质的不均匀性
; P# F: X3 J2 d. I) m" S  u% g) K+ M/ o$ f! W5 b( m5 q) ^! r
大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1),但是基于的都是简单的波浪模型,并不一定准确
( S- t9 q/ A7 s% j; ^' u" D/ m) [而对于2),3)目前polar什么的都无法include,而这部分将有巨大影响。: M& M8 |& K. m5 M( s3 N
我所知道的CST和HFSS都支持2)介质的频率相关模型,但是因为建模的缺陷,想要include 1)那么就要花费很多时间建模。1 g  z; H: z( E9 Q
而对于3)只有少数软件支持,比如Q3D,当然愿意花时间建模,CST/HFSS也可以搞定3)
+ d8 n) [4 e- u( |$ m5 F所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战,需要自行修改RLGC。$ K! i! c2 j- w8 G) G% z

# y% C4 B3 W2 x/ ]# _0 \如果你要比较准确性,我相信对于1),2),3)的处理不同,各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。3 \6 n5 {' \  o! K
而且你仔细检查s参数,会发现他们的质量不太好,比如因果性,无源性,物理性可能欠佳。/ I4 N- f1 Z! D% n  [2 A. H0 ^& p
8 ^' b+ i9 A2 P0 ~$ |- k  a% J
对于高频应用,s参数的质量不好,意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。
: L4 \* b: b9 c( f) X! I7 c* s- W3 `9 n! B' u

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发表于 2010-6-24 15:17 | 只看该作者
本帖最后由 doya 于 2010-6-25 09:47 编辑 8 b6 o  k% C1 D" x6 F% A

" l. y! P* T4 J" C1 F使用ADS提取差分线的S参数
! c) x( Z: B/ G0 v- H' g6 b$ t
( v0 ]5 U' |+ h7 Q1 k5 t

diff.rar

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发表于 2016-8-31 17:19 | 只看该作者
所以目前在對各項軟體的分析中,有哪個結果是大家比較認同的嗎?

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发表于 2010-6-24 14:59 | 只看该作者
踊跃报名,使用工具SI9000 V7.10板,还无法补偿铜箔表面粗糙度引起的插损。

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发表于 2010-6-24 18:12 | 只看该作者
请楼上贴上S参数文件
不問可不可行,而問如果一定要做,該怎麼做

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 楼主| 发表于 2010-6-25 15:39 | 只看该作者
请楼上贴上S参数文件7 h8 ]3 W; U+ F2 ?2 ~& E
袁荣盛 发表于 2010-6-24 18:12

8 ~5 o9 L: B! v0 c  Y; _" H4 u3 \  }# e4 s3 ?$ q% O$ @6 |
1 P$ J! Q% w& q8 r/ ]
    袁版主不来露一手????!!!

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发表于 2010-6-28 17:31 | 只看该作者
使用Hspice提取差分线的RLGC参数,然后在ADS环境中加入传输线的W模型。4 _2 B1 ]& _& c/ s7 Q+ a* q
该方法与直接在ADS中调用层叠和传输线稍微有些不同,
! k$ k: Q2 r# w5 K# F7 a8 i) i& H5 r. q' r* m
与前面基本相同,只是使用的是传输线的W模型。: P/ R# N( ?4 [9 h; d- J

' B4 ]2 d1 p* y2 ]" U; v+ D5 B" u" I# t
与前面方法求得的S参数对比。
6 N3 r8 v: W' W0 Z3 [' hSDD21基本相同,SDD11稍微有些不一样,在1.5G到3.5G吻合的最好。3 P( N% h# u! x1 K
& p3 K! {# e* d. t3 m- b$ @
7 Q) m* y) q$ `5 {
S参数及hspice网表文件: i0 ]  _! Y0 k
diff2.rar (751.14 KB, 下载次数: 138)

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发表于 2010-7-18 11:20 | 只看该作者
踊跃报名,使用工具SI9000 V7.10板,还无法补偿铜箔表面粗糙度引起的插损。
/ D# S# c6 l) Mstupid 发表于 2010-6-24 14:59

( }6 F7 J( X3 f4 p; e, G+ Y6 R/ _, s5 S1 {
( J& r- P. t1 z+ R
    请问哪个工具可以补偿呢?谢谢

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发表于 2010-7-19 08:36 | 只看该作者
V9.10 以上版本

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发表于 2010-7-19 12:31 | 只看该作者
其他同学上啊,怎么没有下文了

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 楼主| 发表于 2010-7-20 12:23 | 只看该作者
等凑齐了5位结果,我再来比较下。。。

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发表于 2010-7-21 16:58 | 只看该作者
本帖最后由 giga 于 2010-7-21 17:06 编辑
0 x9 P1 Z; O' Q1 b  w
9 v( {  w# d* `8 I我这里有四个结果,其实无论哪一个结果,准确度都很高。所以,选择一款自己中意的就行,不必纠结那么一点点的差别。. Y$ n. u- y" ?3 H1 m7 z
3 a! A% l' A# z; Q

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发表于 2010-7-21 23:36 | 只看该作者
从楼上的S参数曲线上看来,几种仿真软件得出的结果几乎相同,一点小小的差别可以忽略了。9 c: i2 K3 J. I  d2 e0 P1 @
如果真的是这样,那以后就用Polar好了,简单。楼上最好把Polar的版本和求S参数的设置抓图贴一下,谢谢

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发表于 2011-1-11 20:31 | 只看该作者
后面没了?学习了!

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发表于 2011-3-23 20:38 | 只看该作者
怎么没有后续了?新手期待中

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发表于 2011-4-29 10:31 | 只看该作者
楼主给的结构可能太过于规则了,之前也有做过这方面的验证,这种结构不同的2D和3D的软件输出的结果都可以很好的吻合。
, c: Z$ }8 i2 t4 T6 }  c要是结构复杂点,比如有过孔和参考面的缺陷什么的,不同的3D tools使用的mesh方法和场解析的算法不同,的确会存在一定差异的,精度跟软件设置也有一定的关系,另外似乎没有标准做对比,比如量测结果什么的..........
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