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孔金属化板板面起泡成因及对策探讨

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发表于 2008-5-8 21:04 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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孔金属化板板面起泡成因及对策探讨
作者:南京电力自动化设备总厂七分厂 王波
Discussion On Cause & Solution Of PTH Board Blising
% ]; C: q# Q7 g6 s4 l7 U$ ~
摘要:本文介绍了对一例孔金属化板板面起泡现象产生原因的分析,并就分析提出各种解决方法。最终确定引起孔金属化板板面起泡的原因。/ Y! v! p( ]* M4 k; P
关键词:起泡、化学沉铜、全板电镀、活性、组份、自催化反应、歧化
) y: U: Q' T6 E0、 现象/ [2 B) g* G/ m
一次, 更换沉铜槽槽液后,化学镀后的双面板经全板电镀厚铜后发现板面起泡,并伴有结瘤。起泡处形状不规则,目测其形状跟某种液体的自然流动而留下痕迹相似,并且每一处起泡都是以点开始的。. s8 I# W9 {8 u/ Z
1.1一次分析) V; \  p; h! P6 Y) U2 Q: C) B+ e7 l1 j
我们孔金属化板的典型工艺流程是:化学沉铜(去油——水洗——粗化——水洗——酸性预浸——活化——水洗——还原(1)——还原(2)——沉铜),全板电镀厚铜(水喷淋——酸预浸——全板电镀——水洗——钝化——水洗——风干)。
2 A. }! d* ~6 z根据工艺流程我们直接否定了故障产生于电镀工段,因为电镀流程简单,如果产生这一现象,那末唯一的工序就是全板电镀,即是说电镀槽引入有机杂质。但是,共用电镀槽的图形电镀铜却没任何问题,因而确定产生于化学沉铜工段。
  O: l/ N; v: Q( H在化学沉铜工段,我们将重点放在还原与沉铜工序。因为根据更换槽液前的处理效果,去油与活化都不错,粗化与此现象没太大关系,而且这几槽槽液都没有更换。
" c& T( u! f/ w根据起泡形状分析认为:这是由还原液引起,因为沉铜液的配制严格按照供应商提供的参数执行,还原液也是刚刚配制的,还原剂中引入杂质可能导致这一现象。还原剂的成份不清楚,只知是浓缩液。还原之后没有水洗,直接进行化学沉铜,这使杂质带入沉铜槽成为可能。  m" `) g+ z; M. J' Q, _
1.2解决方案
0 |: b( m3 @- C) y$ Q/ c* [3 `5 k经与供应商联系,供应商建议将还原(2)改为蒸馏水水洗。采用建议后,情况有所改观,但是没有达到生产所要求的稳定度。经过一周多的维护与调整,溶液达到稳定状态,经过化学沉积铜的板面色泽鲜艳,铜层致密,经全板电镀后也没有起泡产生。5 B" C7 T% g  b; z1 {
1.3小结4 p' f; D2 u( R8 L# U/ z9 [
从上面的情况我们反过来思考所作的分析,在这一周多的时间内仍按供应商的参数维护,仅仅隔两到三天更换一次还原(2)的蒸馏水水洗,以防止还原(2)因还原(1)的残留液的带入而使起浓度上升。从这一情况看我们认为还原引入杂质的分析有误。
. F* |# q3 ~1 k5 I% d2.1二次分析
* b# F+ `8 s/ q2 N" k* C- u既然否定杂质的引入的可能,那么原因何在呢?在控制过程中发现新配溶液的反应很快,起泡是否与活性有关呢?这引起我们的关注,但因为溶液已达到稳定状态,故障无从找起,槽液的更换周期较长,对于起泡的跟踪观察就停止。0 z! a- w/ D4 W) N
我们就活性的相关因素:Cu、NaOH、HCHO等组份的含量,工作温度,络合剂含量,稳定剂进行分析。' v) y7 c/ S3 E  x5 O6 [- c
我们从下列图中可知:5 r% T  H  E1 o& N: ]
1) 沉积速率随着Cu含量的升高而升高,在起始部分几乎呈正比关系。
2 p, s8 {: ~! S. L! u2) 随着OH-、HCHO的浓度及温度的上升,沉积速率亦随之上升。可以从反应主式中得以证实:: k6 }2 k0 C" w6 X4 f  {4 O* x
2HCHO+2Cu2++4OH-→Cu+2HCHOO-+2H2O+H2↑ (1)
) M- _8 U$ V4 f) c! U0 @当[HCHO]、[Cu2+]、[OH-]中的任意一项上升,平衡就左移,即反应速度加快。/ T' }0 U0 C. C, ~0 y- S! k! Z
3) 浓度超过阀值,沉积速度增长缓慢,有资料表明此时副反应增强。其中几个副反应值得注意:/ k# \+ t" v3 b1 B  p9 S
Cu2+→Cu+(2)
. p" ]8 d! s: C5 V0 ICu++Cu+ →Cu↓+Cu2+ (3)0 \4 g, h8 @; l
(2)、(3)式说明了在强碱条件下,Cu2+可能被还原成Cu+,Cu+在强碱条件下易歧化形成细小的粒,不规则的分布于溶液中。7 f& j1 U& n9 L; g
4) 反应(1)式中有H2产生。7 C+ |0 |' O; E" b9 u' g
因此从反应入手分析:新配制溶液的浓度我们一般取推荐的上限与下限值的中值,因此溶液的活性极强。假设经高浓度的还原(1)处理后,再经低浓度 还原(2)处理,板面部分残留液的浓度还没有完全降低,直接入化学沉铜槽,极强活性的镀液使Cu在板面迅速沉积,残留液浓度较高部分的催化性较强,其反应速度也较快,使Cu来不及均匀、致密的沉积并与基材铜箔牢固结合。反应产生的H2也来不及排出,就被沉积的铜包围形成气泡,从而使沉积的铜游离于基材铜箔产生起泡。瘤状物质则有可能是高速反应的副产物Cu颗粒附着于板面,我们知道Cu颗粒以球面与溶液接触,不似基材铜箔以部分面积接触。因此就反应面积而言,铜颗粒较大,其反应速度也快许多,使局部自催化反应的化学沉积越来越快。
7 |' U4 E1 W) x6 P基于上述的认识,我们知道活性过强(即反应过快)是起泡产生的根本原因。因而控制反应速度才能从根本上解决起泡的产生。( a) Q* O3 ~3 y
2.2解决方案0 P0 A* u* ?4 E/ h0 |
有2.1的分析,在第二次更换槽液时,我们注意了组分的控制,并将供应商的参数作了更改,现表述如下:: l: l) L/ h2 l) p# P3 n. `
经上述变更后,工作温度采用低温启动组份控制在较低的状态。更换槽液第一天沉积出的板子,色泽鲜艳、镀层致密,孔化质量好,起泡比例只有0.8%(按块数计)左右,即使存在这一现象的,起泡面积小、程度轻。相对前一次大批量、大面积、程度严重的情况而言,状况改观极大。经两到三天的正常维护,起泡现象完全消失,从而达到稳定生产。
0 ?7 a6 w& j$ o; f* H; |8 f8 q2.3小结
9 g' b9 Y8 A0 l, b$ W- J" H/ ?经上述的调整,基本达到我们所期望的状态,但依然存在起泡现象。源于这次的调整是一次试验。各组份没有达到最佳的匹配状态。经过适当的调整是完全能达到最佳的。' m5 d% [4 k! X* `; J: S( T
3.几点建议
5 B( x  K5 O$ Z0 S, ~+ n5 }1) 从综合因素考虑,减缓反应速度的措施可全面一些。在降低Cu、HCHO、NaOH组份浓度的同时,可增加络合剂、稳定剂的浓度,这样既可使组份保持相对较高的浓度,避免组份浓度过低造成黑孔及其它不良的孔化,又可以保持较为缓慢的反应速度。即是说采取单一的方式是不可取的,那样会导致溶液组份失去平衡。
& m* A3 [: C5 ?1 }2) 随时间的推移,组份浓度应随着升高。所以,在开始的几天,严密监控组份浓度极为重要,根据沉积质量适当调整组份浓度。当达到稳定状态时,应逐步恢复到供应商的参数值。
* f$ P5 T  q  }3) 还原剂浓度适当低些。( l+ o. K6 `3 X  k; z7 c
必须指出:本文只作定性的讨论,对于量的概念应根据实际情况予以不同的处理。所以在行文过程中体现出这一点。在操作过程中作好记录,找出一般性规律以便于规律性添加,因为有些组份的增长并非线性。% v9 w* H4 k0 S8 n. p, {
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发表于 2008-5-9 09:59 | 只看该作者
看了,顶一下,大侠辛苦了
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