Candence XtractIM 仿真的问题

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tencome

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发表于 2016-12-29 08:23 | 只看该作者 |只看大图回帖奖励

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求大神，问一下，使用 XtractIM 仿真对封装芯片颗粒进行RCL参数提取，仿真结果有两个文件，一个是IBIS文件，一个是PIN MODEL文件。

两个文件中，同样的信号，为什么RCL数据会有一点点的差距呢？这个差距是怎么来的？

例如：A0: 电阻在IBIS文件中是0.62326，而在PIN MODEL文件中是0.625292呢？

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