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tDS&tDH base 的选择问题

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发表于 2015-7-15 22:05 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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tDS&tDH base 的选择跟一个指标ACXXXmV,例如AC175,AC150,AC135, " z4 M( G1 n0 Z4 S1 P4 i7 J
这些指标如何选择?
/ _4 U# t- ~' c+ d2 G! E" @% G& r/ f有问过做内存的厂商,他说一般取AC175,具体也不知道为什么
9 W3 U$ C: x" K. `- k$ w# A- J* k) |
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发表于 2015-7-15 23:03 | 只看该作者
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发表于 2015-7-16 00:18 | 只看该作者
AC175的要求是最严格的,如果能过,那么就没有任何问题

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发表于 2015-7-16 08:50 | 只看该作者
依照带宽来选择,若你不跑颗粒的最高带宽不需要那么高的要求。参考规格书。

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发表于 2015-7-17 11:47 | 只看该作者
以下所述,参考参考...- x) Q1 f; k8 s
根据经验,参考规格书。
$ T. z, Z$ h2 Y1 O8 N; @这里所述之规格书是按照作动方式(向)而定。
- f! h/ o0 |2 R: s' U例如Data-Bus/Write时,讯号由控制晶片传到DRAM端,此时按照DRAM的规格5 X' w; j: Z) j, W- {5 w; Y
并决定AC/DC levels。如此,计算接收情况是否符合规格(软体会计算tDS/tDH馀裕)。
6 ?( ?& u9 M7 `& h+ p% v反之亦然,在Read时,计算接收端(控制晶片)的接收情况,使用控制晶片接收时的规格
4 j( u. F8 @) Q- y9 p(tDS/tDH)。
5 {6 R+ h: W" I2 ]只是,在一般状况下,厂商通常回覆按照Jedec规格,所以,Write/Read的tDS/tDH就变成一样了。
3 `- k9 g- `& X- X$ r: e  R# R所以,问清楚所使用的规格来设计与仿真,过与不过,皆有一定的准则判断。

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发表于 2015-9-7 22:38 | 只看该作者
这个和眼图测量有关
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