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EDA365特邀版主
0aijiuaile 发表于 2015-4-15 21:31 . ~+ _$ C* l, W0 F- v: P版主,请教下:“但现实问题有2,一是如何得知测试通道break channel的性能,二是如何去除芯片封装的影响” ...
stupid 发表于 2015-4-16 10:16 * F, w1 L6 I. E2 lbreak channel是一个术语,指从BGA扇出到SMA的这一段链路。' Z% }1 d: N/ S; ~ u2 m7 x SMA的阻抗,对于这种测试板来说,我们可以控 ...
0aijiuaile 发表于 2015-4-16 14:34$ V% P" @* F7 A" f H5 ` 谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?
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