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楼主: stupid
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[仿真讨论] 一周往事1506

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发表于 2015-4-15 21:31 | 只看该作者
版主,请教下:“但现实问题有2,一是如何得知测试通道break channel的性能,二是如何去除芯片封装的影响”
+ u# }2 s/ V1 ]; o这边break channel是指的什么啊?另外,你是如何去除SMA处阻抗突变的影响? 感谢。
4 g1 K1 V; W1 ~$ H7 [

点评

break channel是一个术语,指从BGA扇出到SMA的这一段链路。 SMA的阻抗,对于这种测试板来说,我们可以控制到+/-2欧,回损可以在15GHz以内做到-20dB,带内的阻抗影响可以忽略。  详情 回复 发表于 2015-4-16 10:16

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 楼主| 发表于 2015-4-16 10:16 | 只看该作者
0aijiuaile 发表于 2015-4-15 21:31
8 n/ E' w7 J& O4 U! T& \8 x版主,请教下:“但现实问题有2,一是如何得知测试通道break channel的性能,二是如何去除芯片封装的影响” ...
( D4 n- z' U& ?% Y; p( E
break channel是一个术语,指从BGA扇出到SMA的这一段链路。& _, L, O* `2 l7 m' [' r
SMA的阻抗,对于这种测试板来说,我们可以控制到+/-2欧,回损可以在15GHz以内做到-20dB,带内的阻抗影响可以忽略。6 f7 v% ~5 e% K2 m

点评

谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?  详情 回复 发表于 2015-4-16 14:34

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发表于 2015-4-16 14:34 | 只看该作者
stupid 发表于 2015-4-16 10:162 o5 n1 s: u/ w6 Q( G6 O" M
break channel是一个术语,指从BGA扇出到SMA的这一段链路。
, I- u# |/ M2 P( |& dSMA的阻抗,对于这种测试板来说,我们可以控 ...

. g' X1 K$ N  k- O& S+ d谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?

点评

这一段是开路,TRL不适用,只能用AFR去反推。  详情 回复 发表于 2015-4-20 14:10

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 楼主| 发表于 2015-4-20 14:10 | 只看该作者
0aijiuaile 发表于 2015-4-16 14:34
$ N9 T8 R) l% L9 F8 |( B谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?
& [' r) V1 D0 v: D
这一段是开路,TRL不适用,只能用AFR去反推。

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发表于 2015-4-21 16:37 | 只看该作者
本帖最后由 qingdalj 于 2015-4-21 16:39 编辑 * o9 d1 e( W7 s: F
5 W/ F7 o, `: V- r. V; M0 O
罗辑思维很不错,罗胖讲的很多都发人深省;崇拜楼主各种通,很多名词都没听过,惭愧
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