本帖最后由 dzkcool 于 2011-5-26 13:40 编辑 3 y3 U& p- m% j / l( G, q' I( B Y3 H+ e$ S; a 经过实验,发现delaymeasurement里面的测试负载值会改变Buffer的波形; 在相同的delaymeasurement里面的测试负载值情况下,而仅仅修改拓扑的负载,改变的是接收端的波形,对Buffer的波形不会有任何改变。0 R: l" G* s' x% f; x |
在library里的modelbrowse里修改测试条件会改变IBIS模型里的数据的 |
按照你的拓扑,不同的测试条件下的IO波形即是BufferDelay的波形。: G& A& ]& M1 p5 M1 G" |5 x( V 如果你在仿真参数里面设置的BufferDelay是On-the-fly的话,那不管你用什么样的测试拓扑,BufferDelay的波形都不变,除非你把ibis模型里的测试条件改了。 |
影响i/o啊! |
数据手册中给出的时序是在一定的测试条件下的,计算时序要用到这些参数,但IBIS模型测试条件与数据手册不一致,但根据手册更改测试条件,仿真结果不受影响,我想弄明白这是为什么? |
激励是理想的波形,ibis的buffer输出波形,跟ibis中rising ,falling曲线等有关系,ibis确定后,其相关曲线数据也就是一定的,这些相关的数据得出也是由芯片厂商测试所得,因此要设置测试条件,来保证I/O输出的正确性。 |
bufferdelay measure 设置测试条件,按理说测试条件不同,bufferdelay会不同的,但我的试验是没有影响的,这是我的疑惑,我认为激励既不是IO输出也不是buffer的波形,是没有经器件内部逻辑输出之前的理想波形。我是新手,说的不对,请大家拍砖! |
楼主做的实验bufferdelaymeasure会影响I/O输出么?我们所用的激励是i/o输出还是buffer的波形呢? |
学习一下 |
关于我们|手机版|EDA365 ( 粤ICP备18020198号 )
GMT+8, 2024-11-27 13:32 , Processed in 0.062316 second(s), 37 queries , Gzip On.
地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050