cousins 发表于 2016-4-29 09:36 在看一些表述的paper，有些感觉表述的比较模糊& k( `9 S! T8 h. i7 k+ Q 而且根据文章的表述，这个处理过程好像并不那么轻松简单6 H- J. M& V2 c! e; D. J . @0 G- S, }1 r) ^4 Z2 n- j 可能会涉及不少算法处理过程 - E2 _( ]% q4 H2 k- z! r8 o# f) Y |
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你先验证单个频点的ABCD matrix，然后再做一定带宽的拟合，一上来这么宽，很多细节的算法都评估不了那么准确。( V. ]6 O: o$ h8 G- q |
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Standard Start (GHZ) Stop (GHZ) Length (mils) THRU 0.05 50 590 - l6 o: U: E+ J! S0 D0 }0 |) o OPEN 0.05 50 295 LINE–1 0.05 0.28 8916 ) J" Y: g' S/ K: x LINE–2 0.28 1.58 2176 2 Y5 Z7 ^/ J" ^: N LINE–3 1.58 8.89 822 3 Y% G- O6 Z) T4 _# M LINE–4 8.89 50 640 & [& h! a' w( m# `& N TestLine–2 0.05 50 100008 K1 R' B1 N6 ?4 ?6 u. m: @; M+ ? 例如要测试10000的测试线，要分别测量多个频段的校准线？ k* h$ {, l5 j, P) i( H 这些校准线在推导的时候是如何去嵌入计算的呢？ 6 u' I: x9 x# u* \ / v, z0 ?5 C7 C, e 这些校准线是用来分别去嵌入不同频段下的s参数，然后推导不同频段范围内的材料特性？: ^, g# J3 q' p1 o. n# e' q1 I0 J |
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