本帖最后由 pjh02032121 于 2015-5-7 20:18 编辑 qingdalj 发表于 2015-5-6 15:208 d r" g T4 V 不完全是一回事,wafer test一般指CP,ATE一般指FT。 ATE的字面意思是自动化测试设备,当然CP和FT都是自动化测试。7 L* X5 ]* @8 Y) s 1 `6 U$ u3 B/ d, A* } |
问一下,前面提到的wafer test 和那个ate测试是一回事吗?合在一起讲有点不明白 |
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