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半导体厂商是如何做芯片出厂测试的

查看数: 469 | 评论数: 2 | 收藏 1
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发布时间: 2015-5-6 11:01

正文摘要:

大公司每日流水的芯片就有几万片, 测试的压力是非常大,当芯片被晶圆厂制作出来后, 就会进入Wafer Test的阶段。这个阶段的测试可能在晶圆厂内进行,也可能送往附近的测试厂商代理执行。 生产工程师会使用自动测试仪 ...

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pjh02032121 发表于 2015-5-7 20:13
本帖最后由 pjh02032121 于 2015-5-7 20:18 编辑
( }% O4 s' S5 z4 \' M8 ~! N
qingdalj 发表于 2015-5-6 15:208 d  r" g  T4 V
问一下,前面提到的wafer test 和那个ate测试是一回事吗?合在一起讲有点不明白
% h( i9 N9 Y# L' J# D7 A6 Y
不完全是一回事,wafer test一般指CP,ATE一般指FT。
: s2 P7 \, e$ n" s
: H# y7 p1 q% ?; {. j! e3 U$ rATE的字面意思是自动化测试设备,当然CP和FT都是自动化测试。7 L* X5 ]* @8 Y) s
1 `6 U$ u3 B/ d, A* }
qingdalj 发表于 2015-5-6 15:20
问一下,前面提到的wafer test 和那个ate测试是一回事吗?合在一起讲有点不明白

点评

完全不是一回事  详情 回复 发表于 2015-5-7 20:13
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