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[仿真讨论] 50阻抗线换层参考电源平面的话应该如何测试才是正确?

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发表于 2013-12-4 08:32 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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50阻抗线换层参考电源平面的话应该如何测试才是正确?/ N, y  U# A: z" u6 M0 w

! t# R7 `& a8 n' D假设测试一根50欧走线,从顶层到底层再到顶层,中间有地与电源参考: b0 w# D9 \" a/ `0 ?8 _- H+ T
50阻抗线换层参考电源平面的话,如果没有电容的是不是电源就是悬浮状了
0 e. C4 n4 H4 l2 v0 \; W! E) z% y( o' F( ^- ^: a
这样的无源光板测试换层效果是不是有一些问题
9 D* n, h1 F! U" f, ?: u
3 E' @1 z( A! X( c' K* U: A正确的方法应该是如何的呢?
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发表于 2013-12-4 17:44 | 只看该作者
我觉得测试时应该参考最近的平面。

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 楼主| 发表于 2013-12-4 18:56 | 只看该作者
eeicciee 发表于 2013-12-4 17:44( Q; R* a( G9 U, J0 y+ P
我觉得测试时应该参考最近的平面。

9 C2 g0 B$ n# E  s那类似换层的光板在测阻抗的时候是怎么考虑的呢

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发表于 2013-12-5 10:42 | 只看该作者
mengzhuhao 发表于 2013-12-4 18:569 O$ _6 k: S. O3 a' D0 j( s
那类似换层的光板在测阻抗的时候是怎么考虑的呢
+ C$ H: z5 w0 |% L' `7 C0 {
光板是什么板,没有接触过啊,反正用麦克斯韦去理解就行了

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发表于 2013-12-6 17:23 | 只看该作者
这个概念一直比较模糊,如果是背板的话,测试的时候还是要找最近的地来做参考   毕竟芯片用的时候还是要参考地的

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发表于 2013-12-6 17:36 | 只看该作者
这种情况裸板测试结果肯定跟实际不一样,实际情况会有去耦电容提供电源平面上回流到地平面的AC路径,另外P-G间的谐振分布也影响测试到的S参数曲线,一般比较高速的信号坚决不能这样设计走线,带来的后果就是电源地谐振频点的信号分量衰减相当严重的,SI问题自然就会出现。
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 楼主| 发表于 2013-12-6 18:26 | 只看该作者
jomvee 发表于 2013-12-6 17:36
7 G* C, w- `: {/ i这种情况裸板测试结果肯定跟实际不一样,实际情况会有去耦电容提供电源平面上回流到地平面的AC路径,另外P- ...
  I8 G* p7 w% `6 T/ n$ d
如果需要测试这种效果的话,需要焊接电容到上面?

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发表于 2013-12-6 21:31 | 只看该作者
没有好好考虑过这个问题哦,下次遇到俺要思考一下
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