| Discussion On Cause & Solution Of PTH Board Blising & ]& `5 J8 i) O& ]" o) |: Y! e
摘要:本文介绍了对一例孔金属化板板面起泡现象产生原因的分析,并就分析提出各种解决方法。最终确定引起孔金属化板板面起泡的原因。+ q+ X" N; X4 W
关键词:起泡、化学沉铜、全板电镀、活性、组份、自催化反应、歧化- J b. x$ d# [, ~- e0 _6 q
0、 现象
& }; G7 s: Z$ ?6 D/ A一次, 更换沉铜槽槽液后,化学镀后的双面板经全板电镀厚铜后发现板面起泡,并伴有结瘤。起泡处形状不规则,目测其形状跟某种液体的自然流动而留下痕迹相似,并且每一处起泡都是以点开始的。
, w, K) w; `2 i w! y1.1一次分析6 |5 q+ ~( i# x/ h+ ?- ?$ T
我们孔金属化板的典型工艺流程是:化学沉铜(去油——水洗——粗化——水洗——酸性预浸——活化——水洗——还原(1)——还原(2)——沉铜),全板电镀厚铜(水喷淋——酸预浸——全板电镀——水洗——钝化——水洗——风干)。" [* ?( g2 k7 S8 [; q* s. y% j
根据工艺流程我们直接否定了故障产生于电镀工段,因为电镀流程简单,如果产生这一现象,那末唯一的工序就是全板电镀,即是说电镀槽引入有机杂质。但是,共用电镀槽的图形电镀铜却没任何问题,因而确定产生于化学沉铜工段。
. O D, j6 t: A/ p- U- C* J在化学沉铜工段,我们将重点放在还原与沉铜工序。因为根据更换槽液前的处理效果,去油与活化都不错,粗化与此现象没太大关系,而且这几槽槽液都没有更换。
4 Q ` L" F* K. j3 Z9 b根据起泡形状分析认为:这是由还原液引起,因为沉铜液的配制严格按照供应商提供的参数执行,还原液也是刚刚配制的,还原剂中引入杂质可能导致这一现象。还原剂的成份不清楚,只知是浓缩液。还原之后没有水洗,直接进行化学沉铜,这使杂质带入沉铜槽成为可能。
4 z X# x, d$ f; g4 q1.2解决方案/ n; U4 H+ o' t2 q% x" \
经与供应商联系,供应商建议将还原(2)改为蒸馏水水洗。采用建议后,情况有所改观,但是没有达到生产所要求的稳定度。经过一周多的维护与调整,溶液达到稳定状态,经过化学沉积铜的板面色泽鲜艳,铜层致密,经全板电镀后也没有起泡产生。0 [. @# v0 M( {% w" @* Q* W1 _8 X
1.3小结) |% W/ T- J5 ` B: {( q
从上面的情况我们反过来思考所作的分析,在这一周多的时间内仍按供应商的参数维护,仅仅隔两到三天更换一次还原(2)的蒸馏水水洗,以防止还原(2)因还原(1)的残留液的带入而使起浓度上升。从这一情况看我们认为还原引入杂质的分析有误。
5 k& `9 N1 U& h) I( j2.1二次分析
( A" w+ r# _6 c: ~既然否定杂质的引入的可能,那么原因何在呢?在控制过程中发现新配溶液的反应很快,起泡是否与活性有关呢?这引起我们的关注,但因为溶液已达到稳定状态,故障无从找起,槽液的更换周期较长,对于起泡的跟踪观察就停止。
' Q @8 c' s4 J/ t9 ?# V: s我们就活性的相关因素:Cu、NaOH、HCHO等组份的含量,工作温度,络合剂含量,稳定剂进行分析。6 H7 k5 \9 [7 [6 Z% x& @3 G
我们从下列图中可知:
" U4 N8 P& U$ p# x' l* V" U1) 沉积速率随着Cu含量的升高而升高,在起始部分几乎呈正比关系。
) g1 q% e- D2 a: s# f2) 随着OH-、HCHO的浓度及温度的上升,沉积速率亦随之上升。可以从反应主式中得以证实:# K. p# l; b) \" L( ^! E5 @4 g3 c4 t/ W) |
2HCHO+2Cu2++4OH-→Cu+2HCHOO-+2H2O+H2↑ (1)9 v! w$ h* V [9 L3 W3 K0 \7 h
当[HCHO]、[Cu2+]、[OH-]中的任意一项上升,平衡就左移,即反应速度加快。
$ W9 u* f( `6 K& L! K3) 浓度超过阀值,沉积速度增长缓慢,有资料表明此时副反应增强。其中几个副反应值得注意:# R: m6 ]4 }0 Q5 _( N) G9 }
Cu2+→Cu+(2)
+ ]( _5 O; U% q; k0 ~" }# wCu++Cu+ →Cu↓+Cu2+ (3)% g. s/ @9 c# i) s6 Z
(2)、(3)式说明了在强碱条件下,Cu2+可能被还原成Cu+,Cu+在强碱条件下易歧化形成细小的粒,不规则的分布于溶液中。
. t1 O3 z1 _* V5 P4) 反应(1)式中有H2产生。
! ~" {7 {. ^; Q( Q! q因此从反应入手分析:新配制溶液的浓度我们一般取推荐的上限与下限值的中值,因此溶液的活性极强。假设经高浓度的还原(1)处理后,再经低浓度 还原(2)处理,板面部分残留液的浓度还没有完全降低,直接入化学沉铜槽,极强活性的镀液使Cu在板面迅速沉积,残留液浓度较高部分的催化性较强,其反应速度也较快,使Cu来不及均匀、致密的沉积并与基材铜箔牢固结合。反应产生的H2也来不及排出,就被沉积的铜包围形成气泡,从而使沉积的铜游离于基材铜箔产生起泡。瘤状物质则有可能是高速反应的副产物Cu颗粒附着于板面,我们知道Cu颗粒以球面与溶液接触,不似基材铜箔以部分面积接触。因此就反应面积而言,铜颗粒较大,其反应速度也快许多,使局部自催化反应的化学沉积越来越快。
8 E- I3 ? I& y基于上述的认识,我们知道活性过强(即反应过快)是起泡产生的根本原因。因而控制反应速度才能从根本上解决起泡的产生。
# ~! g; n' `) j: }' u2.2解决方案7 F3 E( k7 b& E! g7 V5 ?
有2.1的分析,在第二次更换槽液时,我们注意了组分的控制,并将供应商的参数作了更改,现表述如下: E8 G6 N5 N" Z! m N& X
经上述变更后,工作温度采用低温启动组份控制在较低的状态。更换槽液第一天沉积出的板子,色泽鲜艳、镀层致密,孔化质量好,起泡比例只有0.8%(按块数计)左右,即使存在这一现象的,起泡面积小、程度轻。相对前一次大批量、大面积、程度严重的情况而言,状况改观极大。经两到三天的正常维护,起泡现象完全消失,从而达到稳定生产。
/ _5 M1 z' M& F2 ~2.3小结
7 `+ G1 W- a6 Q! [& Z) l& h经上述的调整,基本达到我们所期望的状态,但依然存在起泡现象。源于这次的调整是一次试验。各组份没有达到最佳的匹配状态。经过适当的调整是完全能达到最佳的。
6 p1 t5 K, L! O1 u8 z3.几点建议% Z) u8 D: R% ~. ]
1) 从综合因素考虑,减缓反应速度的措施可全面一些。在降低Cu、HCHO、NaOH组份浓度的同时,可增加络合剂、稳定剂的浓度,这样既可使组份保持相对较高的浓度,避免组份浓度过低造成黑孔及其它不良的孔化,又可以保持较为缓慢的反应速度。即是说采取单一的方式是不可取的,那样会导致溶液组份失去平衡。0 s4 [& w+ _' C* ?' }
2) 随时间的推移,组份浓度应随着升高。所以,在开始的几天,严密监控组份浓度极为重要,根据沉积质量适当调整组份浓度。当达到稳定状态时,应逐步恢复到供应商的参数值。4 Q. T8 @" y" [3 k2 p' D0 b% T5 D1 H
3) 还原剂浓度适当低些。+ q# c5 {& D' a# w/ [
必须指出:本文只作定性的讨论,对于量的概念应根据实际情况予以不同的处理。所以在行文过程中体现出这一点。在操作过程中作好记录,找出一般性规律以便于规律性添加,因为有些组份的增长并非线性。
( t& [' h5 |" E4 t2 i$ r C |