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兵马未动,粮草先行。4 s! j2 L/ s! ~) g" Z% ]( t
先从时序分析的一些概念入手。
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, o2 w7 \ m- i: F- O/ X/ M+ q# D; x$ _) r5 p" ?1 X! [$ P( ]
tco: f# F8 U! t' \4 A7 X7 v
----clock to output delay
' n2 }, J: g5 c7 t2 q指时钟触发开始到有效数据输出的器件内部所有延时的总和。Tco 包含缓冲延时buffer delay和逻辑延时logic delay。 w6 G% t% a: g0 h
这是个及其重要然而又被许多人错误理解的问题。1 x8 g+ C; t- E$ [' k, e
" J/ _# l5 ?, O- L4 x4 {$ y4 ulogic delay
# q& p* ]. H9 _& ]3 i4 W8 L. x$ xA、B点间的delay就是logic delay,从输入端(A点)的时钟触发到输出缓冲器(B)触发的时间间隔。
' a( P5 A& [. g6 Y$ ylogic delay是由IC本身决定的,其延时信息厂家是以SDF(static delay file)文件提供的,在design的那一刻就被工艺参数和电气所决定. g& b$ Y0 b* c2 `! v1 V" V
buffer delay9 d1 \2 }7 }% v* d
B、C点间的delay是buffer delay,是指信号经过缓冲器达到有效的电压输出所需要的时间,从下图看即为从B点buffer开关的时间t=0点开始,到C点电压达到Vmeas的时间。' ?% A( }: o& O0 j
buffer delay是和load情况密切相关的,这里看到的是一个50ohm的测试负载,这仅仅是一个例子,不同的芯片其测试条件一般是不同的
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. O& S) R! d- X) C2 f许多人误认为Tco就是buffer delay,这种理解是极其错误的。3 h. j8 }' X& _; L4 I3 v
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/ u" C' z* M: _; I2 C2 [: c: z
1.负载特性决定了buffer delay的不同(variant due to different load)
, y% a) N8 o/ M2 r* L2.IC design决定了logic delay的确定(constant)& _. w) M7 @ u) ^( o; X/ k$ u5 N
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由tco = logic delay + buffer delay 可得,Tco的数值也会随着load情况而变化6 ?0 t3 Y7 E- o; X: m! B, ?! k
可我们在datasheet中的tco又是如何得来的呢,这就要讲到AC test condtion的问题,进而讲到修正,Vmeas等等, f: J, H: P% r. s
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欲知后事,请听下回分解 |
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