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标题: 关于通过S参数反推介质Dk和Df [打印本页]
作者: tangryshe    时间: 2013-8-10 12:12
标题: 关于通过S参数反推介质Dk和Df
各位大大 有没有方法可以通过S参数直接反推PCB基材的扫频介电常数？/ Z0 c1 O7 o4 J8 u0 ?8 @
据我所知 有大的公司采用传输线建模的方法进行反推 也有用阻抗进行粗略的反推（无法扫频）/ K: t* }0 d2 x4 o  ~" C# ^+ O. {
是否有这方面的文献进行佐证 或者 可以借鉴？
作者: 于争    时间: 2013-8-15 11:09
除非你有准确的铜皮粗糙度信息，否则反推不可能得到准确结果。粗糙度会影响到反推出来的介电常数值。
6 k* i% B0 h3 E8 V+ T. n) `5 j' U/ ?
能找到近似结果，工程上够用就好，除非你的设计是在挑战极限。
作者: kuochiang    时间: 2013-9-4 09:01
去用VNA量測一條微帶線, 到幾GHz就你自己決定, 然後用模擬軟體去跑同樣的微帶線參數, 慢慢去微調介質常數的設定值, 量測與模擬的S參數就會慢慢逼近, 這應該可以估出你要的值.
作者: rick    时间: 2013-9-6 01:32
kuochiang 发表于 2013-9-4 09:01
3 Z! C4 f# d/ H, A' Q. Q0 |去用VNA量測一條微帶線, 到幾GHz就你自己決定, 然後用模擬軟體去跑同樣的微帶線參數, 慢慢去微調介質常數的 ...
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{:soso_e179:}
5 @: Z/ t3 o8 s2 m高手啊，你把安捷伦工具的底裤都给扒下来了{:soso_e113:}



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