EDA365电子工程师网
标题:
ICT测试
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作者:
jiajia9959
时间:
2008-7-25 12:45
标题:
ICT测试
平时我们在板子上加的测试点(testpoint,一般用于批量生产时针床测试),为何实际加工后小批量采用飞针测试时,却不采用先前加的测试点(当然绝大部分testpoint还是依然被选用的),而自行选择。。
作者:
Allen
时间:
2008-7-29 13:00
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作者:
jesses_fan
时间:
2008-9-3 06:43
标题:
好帖!
顶,支持,同意,不顶对不起楼主
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