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标题: 以太网介质强度问题 [打印本页]

作者: hawk1226    时间: 2018-2-28 11:40
标题: 以太网介质强度问题
最近做一个以太网的介质强度测试,电源线对以太网2000V的介质强度fail,电源线对PGND介质强度2000V测试OK,PGND对以太网500V介质强度测试OK。系统采用AC220V供电,DGND与PGND采用多点接地(共地)。8 ?' H; u; K0 w* o: N! _

8 q6 x3 u* }! Y' y测试电源线对以太网时发现PCB上RJ45的引脚间有放电现象,
7 h$ N( m( k1 I9 g9 ^: t查看PCB发现网变后端的PGND没有掏空,PGND层与RJ45引脚间距只有10mil。1 P7 ?4 U$ i- d$ e8 g
怀疑是PCB设计上的问题引起的介质强度测试fail。
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  G) _6 D0 T: b; B: a那么在电源线对PGND测试OK的情况下,怎么会导致电源线对以太网测试fail的呢?- A: {; Q6 S. T4 s* |

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作者: alienware    时间: 2018-2-28 16:00
地要切割




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