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标题: 以太网介质强度问题 [打印本页]

作者: hawk1226    时间: 2018-2-28 11:40
标题: 以太网介质强度问题
最近做一个以太网的介质强度测试,电源线对以太网2000V的介质强度fail,电源线对PGND介质强度2000V测试OK,PGND对以太网500V介质强度测试OK。系统采用AC220V供电,DGND与PGND采用多点接地(共地)。
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7 d3 [# S* ~: ~6 @. h测试电源线对以太网时发现PCB上RJ45的引脚间有放电现象,
& U$ [4 y5 y4 z9 t- N查看PCB发现网变后端的PGND没有掏空,PGND层与RJ45引脚间距只有10mil。
6 W, ?0 v. h8 V, @' H3 u怀疑是PCB设计上的问题引起的介质强度测试fail。
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  G$ \6 a& L/ Q5 r$ X那么在电源线对PGND测试OK的情况下,怎么会导致电源线对以太网测试fail的呢?
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作者: alienware    时间: 2018-2-28 16:00
地要切割




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