EDA365电子工程师网

标题: 2017年9月21日QA检查报告节选 [打印本页]
作者: EDA365QA    时间: 2017-9-22 09:04
标题: 2017年9月21日QA检查报告节选
1.铜有尖角，线在分割上
+ H/ H( \( B# v& z$ d7 p
- r/ G5 i( G$ A: |& V* @$ f : x2 Y% ]  L" Q4 d9 F( h0 U/ O
作者: EDA365QA    时间: 2017-9-22 09:04
2.两个电源夹一个信号层可以优化。
' Q7 J) b  ]) J5 X ; N8 ?+ s$ W. F
作者: EDA365QA    时间: 2017-9-22 09:04
3.器件中间多防焊，建议修改封装删除此防焊。; N5 q6 |% _+ w
" A, h  [9 L' M$ U; W
作者: EDA365QA    时间: 2017-9-22 09:05
4.平面太长有跨分割% y$ r6 G5 x% x8 U0 g# A6 e7 N
, d* ^9 T& q6 l; K1 t$ u
作者: EDA365QA    时间: 2017-9-22 09:05
5.分割修改到阻容器件中心过，减少走线跨分割  U' u4 M, M3 D/ Q2 K
$ T' [  M, B/ [# ~0 c
作者: EDA365QA    时间: 2017-9-22 09:05
6.双口RAM有部分线没有等长  Y( I, _. T8 b! S+ X

, ~9 [( a/ X; k( J) v2 @8 C6 G
作者: EDA365QA    时间: 2017-9-22 09:05
7.VTT电源加宽
0 L3 ]4 {) E8 d0 C0 s) x
! l: w  k' i" r: @3 F8 M
作者: EDA365QA    时间: 2017-9-22 09:05
8.器件位号确实% B, @# I# t5 N( H% M" H! V
/ E8 R' O# }9 |* S4 L4 J6 h
作者: EDA365QA    时间: 2017-9-22 09:06
9.光耦前后隔离处理
" w, M, O) k4 h% p  O7 \" w3 V ! B3 p: ?2 {) o3 O# H: T. t! p9 W
作者: EDA365QA    时间: 2017-9-22 09:06
10.USB没有参考平面
8 X! `( A5 F- r
8 h, q8 J/ ~* {' c0 ]
作者: EDA365QA    时间: 2017-9-22 09:07
11.贴片阻容器件中间不建议穿无关的走线
( F! [: ~4 G% l
4 r2 |* L! H! {6 H% }
作者: EDA365QA    时间: 2017-9-22 09:07
12.不建议在电感内部大孔穿线
5 ^( ^# x0 Z" q 7 N  c7 v, H( m' \! y" J6 Q/ ]& I% y0 y
作者: Haiting32451    时间: 2017-9-22 11:06
谢谢分享
作者: guhanzuiying    时间: 2017-9-22 12:44
作者: wx_SHOh21dw    时间: 2017-9-23 20:31
:hug:
作者: 小千    时间: 2017-9-30 15:55
EDA365QA 发表于 2017-9-22 09:07
# p) U" W" @$ _2 n8 @" E$ f2 t$ n12.不建议在电感内部大孔穿线

: d6 N* h! C, c1 q) k/ z2 ~我认为这个高速线这种走法是最好的处理，请问有没有其他好的处理方式？
作者: 小四月    时间: 2017-10-24 23:50
作者: biblejj33    时间: 2017-10-24 23:50
作者: fengyu6117    时间: 2017-11-6 14:20
作者: 陆大少    时间: 2018-1-29 09:47
作者: 陆大少    时间: 2018-1-29 09:47
作者: 陆大少    时间: 2018-1-29 09:48
作者: huang8weijie    时间: 2018-2-7 15:53
6666666666666



欢迎光临 EDA365电子工程师网 (https://bbs.elecnest.cn/) Powered by Discuz! X3.2