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标题: 怎样提高ICT测试中IC open 的可测率 [打印本页]

作者: wood007 时间: 2008-12-12 20:31
标题: 怎样提高ICT测试中IC open 的可测率
最近一直想提高提高ICT测试中IC open 的可测率，还有为什么有的 IC 用感应片测不到，想请高人指教一番，小弟在此为此谢！

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