EDA365电子工程师网
标题:
IEEE compliant Test Fail
[打印本页]
作者:
lordace
时间:
2015-7-13 09:33
标题:
IEEE compliant Test Fail
各位大神,我有个1000base-T的模块,在做IEEE compliant Test时,19颗里有2颗“
transmitter distortion failureand difference AB peak failure”
请问下是在PHY→Transformer→RJ45 Connector整個鏈路上,有哪些參數會對上述的兩項測試產生影響呢?是不是个别Transformer功能不良导致的呢?
8 }) q( u/ J1 V
作者:
True
时间:
2015-7-13 10:48
看一下Transformer吧,这个很有可能是它的问题。 匹配在哪里,是不是在Transformer里?
作者:
xingzhe8585
时间:
2015-7-20 09:28
gongmo
欢迎光临 EDA365电子工程师网 (https://bbs.elecnest.cn/)
Powered by Discuz! X3.2