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标题: IEEE compliant Test Fail [打印本页]

作者: lordace    时间: 2015-7-13 09:33
标题: IEEE compliant Test Fail
各位大神,我有个1000base-T的模块,在做IEEE compliant Test时,19颗里有2颗“ transmitter distortion failureand difference AB peak failure”请问下是在PHY→Transformer→RJ45 Connector整個鏈路上,有哪些參數會對上述的兩項測試產生影響呢?是不是个别Transformer功能不良导致的呢?8 }) q( u/ J1 V

作者: True    时间: 2015-7-13 10:48
看一下Transformer吧,这个很有可能是它的问题。 匹配在哪里,是不是在Transformer里?
作者: xingzhe8585    时间: 2015-7-20 09:28
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