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STM32 AD采样问题?

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发表于 2015-3-25 15:48 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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     关于STM32 AD采样, 我们知道当AD输入采样值为3.3v以内时,MCU可以采样到,但如果高于了3.3V,MCU就采样不到! 针对于这种问题怎么解决,各位有没有什么办法解决,个人观点是不是可以用什么电路进行转换或者有什么IC可以识别高于电源电压的AD采样值!
5 W! R- D- A4 h$ s( W
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发表于 2015-3-25 19:40 | 只看该作者
myl593799546 发表于 2015-3-25 17:02* \9 e$ n7 n0 u) J' `6 Y0 m
楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压

( [# a8 L: D+ X2 t& {9 Z. a我做的和你不一样:我的是3.3V的MCU去检测电池,电池电压最大4.2V,所以我是分压后再接入MCU的,然后测得的数据再经过换算得到实际电池的电压。
/ M9 Z" v2 d2 a你的意思就是两个MCU(A和B)都需要对A点进行AD检测,而且两个MCU的ADC的参考电压不一样,假设分别A为3.3和B为5V,而你要测的点电压为4.5V,这样你如论如何都需要分压吧,要测的点经过分压后(3.3V内)再接入A,B则直接接测试点
' o6 o" M! w6 _2 P$ T  w$ N
* I6 ?, d5 ^9 L' G1 N3 r* d

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发表于 2015-3-25 18:45 | 只看该作者
i265 发表于 2015-3-25 17:30
* a8 L, A! l* K! Y/ Z: G分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!
( a# T! P& r) }" P5 w! ]
明白你的意思了2 @  x" D$ O8 m1 ^
你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM32再接一路过去读取A采样点的信号,是这样吗?) S/ e) q3 d4 A7 I6 Q- c7 P; z
如果这样那就直接分压,再串电阻到STM32,影响的就是阻抗,如果你的阻抗够高,分压的级数与串联的电阻的数量级大于MCU的输入阻抗,即可看成不影响。
6 N8 S% ?/ A7 h* ^0 ~& q4 ^

点评

是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用, 比如A点4.5V电压值,STM32直接串电阻不影响B的采样吗?  详情 回复 发表于 2015-3-25 18:49

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 楼主| 发表于 2015-3-25 16:07 | 只看该作者
bingshuihuo 发表于 2015-3-25 15:574 x( I% i& \2 c( ~- m4 W
你采用几个电阻2 J6 h5 N1 F2 [2 `- c
使用分压士式
) J1 b+ A8 k* z2 N5 C4 U8 ?# J
  A为采样点,A与B MCU是一直采样的,电压有可能是3.3或者5V  ,现在STM32需要去读取A采样点, 但不能影响 A与B 直接的采样,( 比如A为3.5V的AD电压,怎样使B与STM32都可以读取3.5V  )
: p* J0 v% o' |$ E$ J8 z

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发表于 2015-3-25 15:50 | 只看该作者
电阻分压

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是这样的 ,电路本事有A采样点与B MCU ,现在需要不影响AB直接采样(AB采样有可能是3.3V 或者5V的电平 ),我要并联一个MCU到A采样点  详情 回复 发表于 2015-3-25 15:55

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 楼主| 发表于 2015-3-25 15:55 | 只看该作者
fallen 发表于 2015-3-25 15:50
$ p: s1 ?0 ~1 ~0 Z& f2 q电阻分压

2 N: H7 O' Y& H. L0 |是这样的 ,电路本事有A采样点与B MCU ,现在需要不影响AB直接采样(AB采样有可能是3.3V 或者5V的电平 ),我要并联一个MCU到A采样点 5 r8 r( f2 e, l+ B7 S' Q

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发表于 2015-3-25 15:57 | 只看该作者
你采用几个电阻2 K8 V; t& @6 Z6 m& a
使用分压士式
/ Q$ t. f6 G: ?$ w. j9 p
9 T* r* ]' S0 C5 k4 ?0 w只要采样不大于3.3V
+ ^9 C. N$ x. O* R* o  W' S采样肯定没问题

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[attachimg]94715[/attachimg] A为采样点,A与B MCU是一直采样的,电压有可能是3.3或者5V ,现在STM32需要去读取A采样点, 但不能影响 A与B 直接的采样,( 比如A为3.5V的AD电压,怎样使B与STM32都可以读取3.5V )  详情 回复 发表于 2015-3-25 16:07

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发表于 2015-3-25 16:26 | 只看该作者
A采样点,分压,然后分别接电阻到STM32与MCU B# j7 P0 ^( i3 V1 N
A采样点的电阻分压的数量级小于串联到STM32与MCU B电阻的数量级。

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发表于 2015-3-25 16:27 | 只看该作者
我的建议是你使用分压电路
+ T' k& U+ v8 J1 n( D4 V7 x. @把整个电压降下去' L% u( r+ W! e) k# e- ~' h/ g
使电压低于3.3V' Q' }0 |- ?2 S9 c0 j" j
这样采样就不会有问题
; s! i5 ]2 S; q3 y1 N: q1 t! u% @9 q& p) B
只是采样点的电压降了一些
1 x- [/ D$ f" e/ Z; G) s其他的没什么影响

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如果把采样点降点,这样会影响到B点MCU采样哦, 假设采样点为4.5V ,这是要降到小于3.3V ,B点MCU肯定会影响采样错误  详情 回复 发表于 2015-3-25 16:35

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 楼主| 发表于 2015-3-25 16:35 | 只看该作者
bingshuihuo 发表于 2015-3-25 16:27: C; j. I+ F4 j. I0 F# ^# f1 g: P+ ~
我的建议是你使用分压电路
# G0 {1 C: V# t, e: Y把整个电压降下去/ @; p" m0 }& t' G' n
使电压低于3.3V

3 W6 B$ d0 _1 `如果把采样点降点,这样会影响到B点MCU采样哦, 假设采样点为4.5V ,这是要降到小于3.3V ,B点MCU肯定会影响采样错误
2 R8 O! g5 A, U) G% |

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发表于 2015-3-25 17:02 | 只看该作者
楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压

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我做的和你不一样:我的是3.3V的MCU去检测电池,电池电压最大4.2V,所以我是分压后再接入MCU的,然后测得的数据再经过换算得到实际电池的电压。 你的意思就是两个MCU(A和B)都需要对A点进行AD检测,而且两个MCU的ADC  详情 回复 发表于 2015-3-25 19:40
分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!  详情 回复 发表于 2015-3-25 17:30

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myl593799546 发表于 2015-3-25 17:02
  }; u8 m+ }: G楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压
! X2 m9 t1 `3 @6 j4 e) A8 A7 ]  c2 Z
分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!
7 ]4 a% |) ~# ~% t$ Y4 p

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明白你的意思了 你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM32再接一路过去读取A采样点的信号,是这样吗? 如果这样那就直接分压,再串电阻到STM32,影响的就是阻抗,如  详情 回复 发表于 2015-3-25 18:45

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 楼主| 发表于 2015-3-25 18:49 | 只看该作者
fallen 发表于 2015-3-25 18:456 X! Y+ Z/ u1 {6 {* r
明白你的意思了
- H2 v- y  A2 E5 l你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM ...

* E; I& \: x5 Q" ^是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用,    比如A点4.5V电压值,STM32直接串电阻不影响B的采样吗?
; c6 W2 u1 e5 Q. r8 g  S) ^: ]7 S* q3 x

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就是阻抗的问题,只要足够大,即认为不影响。  详情 回复 发表于 2015-3-25 19:55

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发表于 2015-3-25 19:18 来自手机 | 只看该作者
你怕影响的话,看直接从采样点拉一个跟随器是否可行,应该不会在影响前后了吧

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能具体点吗? 应该怎么做 ,谢谢!  详情 回复 发表于 2015-3-26 20:21

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发表于 2015-3-25 19:55 | 只看该作者
i265 发表于 2015-3-25 18:49
! O3 c/ w( X- z/ ^( G! U是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用,    比如A点4.5 ...

, s" G8 I( v/ p* ^就是阻抗的问题,只要足够大,即认为不影响。
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