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下面提供美国军方的一个失效率表: - x/ d& h) ^( L# E" j1 P. F
摘自[微处理器接口技术]1983.5版-315页
0 C) [0 K: k O/ n
. x$ D$ v" Z/ Y4 _ 部件 ..................... 失效率(%/1000小时)
' [4 M8 J Q% q" W% G) V 1.电容器 ................. 0.02
2 m2 H+ G6 F* `- ^ 2.连接器接点 ............. 0.005
! t# |3 G: N: M" P8 M, Z) e% F 3.二极管 ................. 0.013 8 G5 Y1 r% F5 g. t" L- X w& p; R# L
4.集成电路(SSI,MSI和LSD) . 0.015 ( o1 i6 ]+ V2 z/ S& R, @) J+ z
5.石英晶体 ............... 0.05 4 n7 R0 P7 l. H: w3 U* ?
6.电阻 ................... 0.002 $ q4 M9 ~$ |. c% Q& z
7.焊点 ................... 0.0002 ( y2 _# E! B1 z" w- d
8.变压器 ................. 0.5 % C$ U4 K5 O9 ?- G- H2 |
9.晶体 ................... 0.04
6 z) t# B% H6 }+ W/ s& H% W6 c 10.可变 ................... 0.01 0 p& _4 r: ?( V" G4 h# ]) p
11.绕线接点 ............... 0.00002 ------------! " u5 r. N6 N- Q. j
. s' h9 ?. e! F' g* |+ f$ x 平均地看,某些部件的寿命长于另一些部件。 % ]9 T+ [$ `, l5 J# D" B; Z
当然,这个表是假定了所有部件都是合理使用的。 . e+ w( ]6 N8 z$ I
这些数字是根据对每种部件的大量样品进行加速寿命试验所得到的。 |
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