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美国军方的一个失效率表

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发表于 2009-2-15 21:47 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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下面提供美国军方的一个失效率表: - x/ d& h) ^( L# E" j1 P. F
   摘自[微处理器接口技术]1983.5版-315页
0 C) [0 K: k  O/ n  
. x$ D$ v" Z/ Y4 _   部件 ..................... 失效率(%/1000小时)
' [4 M8 J  Q% q" W% G) V   1.电容器 ................. 0.02
2 m2 H+ G6 F* `- ^   2.连接器接点 ............. 0.005
! t# |3 G: N: M" P8 M, Z) e% F   3.二极管 ................. 0.013 8 G5 Y1 r% F5 g. t" L- X  w& p; R# L
   4.集成电路(SSI,MSI和LSD) . 0.015 ( o1 i6 ]+ V2 z/ S& R, @) J+ z
   5.石英晶体 ............... 0.05 4 n7 R0 P7 l. H: w3 U* ?
   6.电阻 ................... 0.002 $ q4 M9 ~$ |. c% Q& z
   7.焊点 ................... 0.0002 ( y2 _# E! B1 z" w- d
   8.变压器 ................. 0.5 % C$ U4 K5 O9 ?- G- H2 |
   9.晶体 ................... 0.04
6 z) t# B% H6 }+ W/ s& H% W6 c   10.可变 ................... 0.01 0 p& _4 r: ?( V" G4 h# ]) p
   11.绕线接点 ............... 0.00002  ------------! " u5 r. N6 N- Q. j
                                 
. s' h9 ?. e! F' g* |+ f$ x   平均地看,某些部件的寿命长于另一些部件。 % ]9 T+ [$ `, l5 J# D" B; Z
   当然,这个表是假定了所有部件都是合理使用的。 . e+ w( ]6 N8 z$ I
   这些数字是根据对每种部件的大量样品进行加速寿命试验所得到的。
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发表于 2009-2-16 01:47 | 只看该作者
顶 这个很有用。估算mtbf

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发表于 2009-6-9 17:28 | 只看该作者
略显古老了,,,,,maybe现在的参数不一样了
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