Candence XtractIM 仿真的问题

tencome

求大神，问一下，使用 XtractIM 仿真对封装芯片颗粒进行RCL参数提取，仿真结果有两个文件，一个是IBIS文件，一个是PIN MODEL文件。
1 ]8 R* M6 S0 ]) I1 E* }4 t5 J- A, M/ f
两个文件中，同样的信号，为什么RCL数据会有一点点的差距呢？  这个差距是怎么来的？
7 E, t3 d1 U5 J2 g# U
& W" n) M/ u! d2 D例如：A0: 电阻在IBIS文件中是0.62326， 而在PIN MODEL文件中是0.625292呢？
0 I7 M. G/ _7 }# ~3 P% u; G4 ~