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[硬件] 浅析CMOS电路

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发表于 2019-9-27 15:09 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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CMOS问世比TTL较晚,但发展较快,大有后来者居上、赶超并取代之势。9 e! l6 J+ Q( z# P; o4 s- Z3 ]2 e) e
1、组成结构
( m/ K# f( f2 O* n- [) p& X' xCMOS电路是互补型金属氧化物半导体电路(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)的英文字头缩写,它由绝缘场效应晶体管组成,由于只有一种载流子,因而是一种单极型晶体管集成电路,其基本结构是一个N沟道MOS管和一个P沟道MOS管,如图1所示。0 E. D9 K0 k0 S6 R
由于两管栅极工作电压极性相反,故将两管栅极相连作为输入端,两个漏极相连作为输出端,如图1(a)所示,则两管正好互为负载,处于互补工作状态。
: j! D3 ?3 [/ }0 j当输入低电平(Vi=Vss)时,PMOS管导通,NMOS管截止,输出高电平,如图1(b)所示。   ·
& o, _* j( K5 _当输入高电平(Vi=VDD)时,PMOS管截止,NMOS管导通,输出为低电平,如图1(c)所示。% P  Q; n8 D5 h, D6 y$ J" v
两管如单刀双掷开关一样交替工作,构成反相器。
& H4 Q. u  G( c7 T1 H2、制造工艺( K( z1 t: r$ r/ y6 p& R) r
CMOS电路中的主要组成是金属、氧化物、半导体管,做在同一基片上,其间自然是隔离的,无需专门的隔离措施。7 F5 w% N3 L/ h( T/ r+ V5 t
图2为CMOS反相器的芯片结构示意图。5 v% B4 h4 R/ V: t! m
在制造时,首先在N型硅衬底上扩散P型区,这个P型区通常叫做P阱,也就是N-MOS管的衬底;在P阱内再用扩散法制作两个N型区,以形成N-MOS管(N沟道MOS管)。而P-MOS管则可直接做在N型硅衬底上。
1 n8 v& ~3 I+ {由上述可见,CMOS电路比双极型电路制造工艺简单、工序少,由于节省了隔离槽占用的面积,还可大大提高电路集成度。当然,若与单沟道MOS电路相比,工艺上要稍复杂些,例如它要多用两块光刻板,还需要P阱保护环,因而芯片利用率也要低些。
  G. [+ B! e$ t1 e3、电路特点
2 h  S* @) I/ _& l8 a) U1) 功耗
3 s7 N6 B2 d! R& k/ I" a表1列出了各种MOS电路的四个主要参数。+ t& s) V# t0 R: k! r" \9 l' p
CMOS电路采用互补结构,工作时总是一个MOS管处于导通、另一个MOS管处于截止状态,因而电路功耗理论上为零。) t) B3 ~# ]+ p9 X9 p2 J, h7 U
实际上,由于存在硅表面和PN结的泄露电流,量值约数百毫微安,因而尚有微瓦量级的静态功耗,但相比于TTL电路则低多了。
& ^5 O. }( ]4 z4 q4 B  i) V" {功耗低,这是CMOS电路的一个突出优点。
/ ^( f7 |2 A! y0 P图3为两种电路的动态功耗电流曲线。
3 ?. d% j8 O3 [' q' s. ?5 c由图3曲线可见,TTL比CMOS电路功耗大,但随频率提高其功耗所增无几,而CMOS电路的功耗却随频率提高急剧增大,因而CMOS电路宜用于较低频率。
. @2 W' t. t* p3 F2) 抗干扰能力
0 c) Y5 {2 @0 p抗干扰能力又称噪声容限,它表示电路保持稳定工作所能抗拒外来干扰和本身噪声的能力,可用图4电压传输特性来说明。6 R9 R5 b3 m' R0 n1 f
在图4曲线中,ViL为本级门最大输入低电平,Vg为关门电平,Vk为开门电平,ViH为最低输入高电平。显然,要保持输出高电平,干扰电压不应超过:
+ J& l, ?/ R  Z$ P1 ]7 I图4是在电源电压为5V时的典型曲线,由图可知,CMOS曲线比TTL变化陡,其Vgc与Vkc值接近约为2V,且输入、输出电压范围也比TTL大,因而其抗干扰能力较强。
/ }, S* V( c1 w( h3) 工作速度
4 e2 O" ]; G! W9 A# p, `5 h电路的工作速度一般用平均传输延迟时间tpd表示。它说明输出信号比输入信号在时间上落后了多少,也就是信号通过一级门所花费的时间。当然,希望tpd值越小越好。9 \/ y7 C$ f! b5 r4 L+ P
表1中所列tpd值是在环境温度25?C,供电电压5V同一条件下,对与非门电路的测试值。由表可见,CMOS电路的工作速度比PMOS和NMOS电路要高得多,但比TTL电路要低约一个数量级。  Z  D! c1 R  j) S. q
前已述及,工作速度的提高在功耗上是要付出代价的,这也就是CMOS电路不宜用于高速控制系统的主要原因。
- q8 ^3 y3 E/ {2 I, S: J- r4) 扇出系数6 E5 ^% A+ N8 b0 o
在实际应用中,要完成复杂的逻辑运算,一个门电路总是要驱动若干个其他门电路的,因而后级门就成前级门的负载。一个门能驱动的门的个数是有限制的,通常用能驱动同类门的最大个数来表示一个门的负载能力,这个数值叫做扇出系数No。
* [! d, K  E+ ]) J1 S0 r8 j影响No的因素主要有二:
- f- C& ?# c; h$ R  i6 i' g1) 电路输出管允许的倒灌电流;% T- ?+ d. q# u8 v3 n1 _
2) 门电路本身的短路输入电流。
" Q$ ^% m) F. K# `2 ^( m7 p由电路结构可知,CMOS电路的输入端是栅氧化膜,其阻值高达数百兆欧。实际上由于在输入端设置的保护电阻和保护二极管PN结的漏电,使输入阻抗下降至数十兆欧,尽管如此,它比TTL电路要高得多。
$ N' }1 ^, b' D, T由于CMOS电路的输入阻抗极高,在级联时几乎不取负载电流,因而其扇出系数要比TTL电路约高出一倍。
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