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下面提供美国军方的一个失效率表: 2 t1 C1 y: A3 K4 o4 z' W) R1 U
摘自[微处理器接口技术]1983.5版-315页
0 e* M, s* m$ \+ P: O E" E/ z* C , }. |) j! \ s( z
部件 ..................... 失效率(%/1000小时) ; J$ x( }& l: v h" J+ s
1.电容器 ................. 0.02
" q. A- ]8 D5 s 2.连接器接点 ............. 0.005 q0 u7 ?) s3 U8 G/ h
3.二极管 ................. 0.013 9 Y; }4 Q. W6 {) k7 N
4.集成电路(SSI,MSI和LSD) . 0.015
& W' T! W& v+ i% t1 x 5.石英晶体 ............... 0.05 8 J; J* E/ {9 K9 e, n
6.电阻 ................... 0.002 ( l) K+ c/ Y8 f" J0 j7 ^
7.焊点 ................... 0.0002 % B% |, ?$ a7 @- |0 Y' E
8.变压器 ................. 0.5 ) y- m) I# ~9 \1 A
9.晶体 ................... 0.04
& O/ m3 z; l3 s) }4 u5 } 10.可变 ................... 0.01 / @$ E3 u# j. e8 W: }6 H
11.绕线接点 ............... 0.00002 ------------!
% Q4 S: j: T: j) l. f0 ]
9 b( f( I7 X6 `5 H7 c- ~- Z 平均地看,某些部件的寿命长于另一些部件。
, `& `$ t6 W1 b7 k+ E' V" B 当然,这个表是假定了所有部件都是合理使用的。 4 L" K G. w# J* V4 A' d+ Q+ H3 R
这些数字是根据对每种部件的大量样品进行加速寿命试验所得到的。 |
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