EDA365欢迎您!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
本帖最后由 alexwang 于 2018-7-3 11:07 编辑 % v3 w, M: s1 x$ n. S2 y
, K, }- Q6 \; y8 J1 ]; c" _
隐藏的PCB可靠性问题,就在你身边!中招了没?
B: X4 ~, T0 S* X) Y& ? U3 G4 w7 f1 f" |+ S
$ `" `% u0 t7 ?. u" A! l
$ f/ ?! v7 z o& G# p
3 ~8 v0 _+ N( n2 c0 o9 f6 m前言% `3 Y l$ }9 A6 c+ [% ~
在PCB行业验收标准IPC-6012C中,只有三个章节的试验牵涉到可靠性方面的要求,主要是介质耐电压、湿热绝缘电阻(MIR)和热冲击(Thermal Shock),前两者主要评估板材可靠性,后者主要评估电镀铜可靠性。 热冲击试验来源于IPC-6012C 3.10.8章节的要求,依照IPC-TM-650 测试方法2.6.7.2测试,一般常用FR4材料的PCB选用条件D,在经过高低温循环100次之后,第一次高温电阻和最后一次高温电阻的变化率不能超过10%,并且试验后做显微剖切的镀覆孔完整性合格。 + l& [( b+ Q& [* M( e" ]) S. n4 ]- M
================================== IPC定义的热冲击(ThermalShock)试验,其与封装业JEDEC的温度循环试验(TCT)类似,但与JEDEC的热冲击试验(TST)有差异,因为IPC的热冲击试验(TS)和JEDEC的温度循环试验(TCT),都是基于空气传热的,而JEDEC的热冲击试验(TST)是基于液体传热的,其温度转换速率远远高于空气传热,故如果客户要求测试TS时,还是需要确定所依据的标准和试验条件。 8 |( Q+ `# n, G0 Y
JEDEC原为美国电子工业协会EIA之下属团体,现已独立出来成为IC封装业的专门组织,曾就有机IC载板与半导体成品之品检与可靠度试验订定许多规范,其涉及到温度循环方面最常见的两个试验如下:
3 {: Y7 _: I- D0 Y TCT:参考标准JESD22-A104E,两箱式Air to Air温度循环试验(Temperature Cycling Test),共有13种高低温匹配与4种留置时间CycleTime(1、5、10、15分钟)的级别对应,以供用户参考,如下图2和图3所示: 9 W" Y V6 \# d
" O) g; L, r& a# ]5 p3 S
TST:参考标准JESD22-A106B,两槽式Liquid to Liquid高低温液体中之循环试验,特称为Thermal ShockTest热冲击试验,试验条件如下图4所示:
6 k j/ A$ G5 R3 |7 ?0 |不管是TCT或是TST试验,其试验时间都是很长的,而IST时间明显小于TCT和TST,常见的温度循环测试曲线如图5所示,由图可以看出,液冷式的TST试验,高低温转换速率是最大的,IST其次,TCT最小,而高低温转换速率越大,其对材料的冲击也随之增加,也就更容易失效:
. b% P3 i* c8 m `$ QIST试验虽然试验时间最短,但其也有不足之处,它的高低温温差是最小的,温差决定了测试样品的工作温度范围,温差越大,代表样品能工作在更高或更低的温度,如图6所示: IST因为测试时间短,温度转换速率大,对测试样品的疲劳老化影响也较大,故可以使试样早早发生失效,比对图7的IST失效数据和图8的TCT失效数据,可见在相同的条件下,IST试验很早就发生的失效:
. P1 U6 }3 V0 J3 i% K================================== 在PCB的各种温度循环试验中,其主要失效机理是因为板材的Z轴CTE远远高于孔铜的CTE,在温度剧烈变化的过程中,各种应力集中处容易被Z轴膨胀拉断,常见的失效模式见图9所示: & F P) u1 S6 a2 \+ z" t
8 ]! ?# Z! r3 e3 r
5 l8 e5 |* j; _
一些常见失效切片分析如下:3 v+ ?( G8 {9 a; Q$ h: ~! ?
1、电镀铜延展性不佳或板材Z-CTE较大,造成孔中间的孔铜全周拉断且断口较大,如图10所示:) Q$ {) [1 R1 i- C7 r
: I# b& ?) H8 v+ P1 ]2、金属疲劳产生的微裂,呈45°斜向微裂,常沿着晶格出现,经常裂在玻纤与树脂交界处的铜壁,孔铜开裂附近之部份基材也有微裂,如图11所示: 0 W7 H0 o1 P& f( S
3、孔角断裂,主要是应力移往板面并出现杠杆式伸缩,金属疲劳和应力集中引起,如图12所示:
0 [" j- \/ n# L) H2 G, t
8 r3 a D$ J* g- E 4、孔壁和孔环的拉裂,拉裂的孔环呈Z方向的走位,其主要是多次焊接高温或材料Z-CTE较大造成, 如图13所示:
( f9 ~ Q6 E6 y! _4 g; g# n5、孔环铜箔的断裂,钻孔钉头再结晶后铜箔弱化,在疲劳试验中被拉裂,如图14所示: 6 k7 F9 J. |' G9 c1 ^* H, D
6、盲孔与底垫分离,主要是底垫铜面出现钝化膜,或热应力较大(回流曲线热量较高、多次焊接、局部过热)造成,如图15所示: 4 {: \. |: E# [( [& k1 _
6、盲孔根部断裂,主要是电镀药水老化或杂质较多,造成镀铜质量下降,低电流处结晶疏松造成,如图16所示: , Z& X/ y& O6 P; J' C
; C8 r* @3 M* J. n) z- b0 N
# J7 S+ n5 R# t. J6 ` e
|