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STM32 AD采样问题?

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发表于 2015-3-25 15:48 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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     关于STM32 AD采样, 我们知道当AD输入采样值为3.3v以内时,MCU可以采样到,但如果高于了3.3V,MCU就采样不到! 针对于这种问题怎么解决,各位有没有什么办法解决,个人观点是不是可以用什么电路进行转换或者有什么IC可以识别高于电源电压的AD采样值!
: q3 m$ a, |7 R% O! }4 V
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发表于 2015-3-25 19:40 | 只看该作者
myl593799546 发表于 2015-3-25 17:02
" ]- |8 w3 H& n4 Z; P楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压

6 G. w# [8 G, {- B( P# C" W5 D我做的和你不一样:我的是3.3V的MCU去检测电池,电池电压最大4.2V,所以我是分压后再接入MCU的,然后测得的数据再经过换算得到实际电池的电压。# S" w; B* _( }( l1 o
你的意思就是两个MCU(A和B)都需要对A点进行AD检测,而且两个MCU的ADC的参考电压不一样,假设分别A为3.3和B为5V,而你要测的点电压为4.5V,这样你如论如何都需要分压吧,要测的点经过分压后(3.3V内)再接入A,B则直接接测试点
' X; |' d, ~. ]- b4 Y, r- q. z3 F- @8 h

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发表于 2015-3-25 18:45 | 只看该作者
i265 发表于 2015-3-25 17:30
3 Q+ `: {7 P7 e" t( p+ s分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!
6 e9 ^1 ?9 d. t" @4 ^3 T
明白你的意思了) j5 f2 ?7 B' v) t- a: Z9 [
你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM32再接一路过去读取A采样点的信号,是这样吗?; i2 _' G+ C3 I7 h( N8 ^# x
如果这样那就直接分压,再串电阻到STM32,影响的就是阻抗,如果你的阻抗够高,分压的级数与串联的电阻的数量级大于MCU的输入阻抗,即可看成不影响。
2 I( s7 c. n( i' L% O

点评

是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用, 比如A点4.5V电压值,STM32直接串电阻不影响B的采样吗?  详情 回复 发表于 2015-3-25 18:49

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 楼主| 发表于 2015-3-25 16:07 | 只看该作者
bingshuihuo 发表于 2015-3-25 15:57
$ ]7 A( ^7 Z  a, ^/ `你采用几个电阻
5 K0 e4 }) f6 y; y$ Z9 N; ?使用分压士式

$ N; j$ |6 P1 Q, w- D   A为采样点,A与B MCU是一直采样的,电压有可能是3.3或者5V  ,现在STM32需要去读取A采样点, 但不能影响 A与B 直接的采样,( 比如A为3.5V的AD电压,怎样使B与STM32都可以读取3.5V  ) , H& @6 T+ E  Y+ f8 {5 b

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发表于 2015-3-25 15:50 | 只看该作者
电阻分压

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是这样的 ,电路本事有A采样点与B MCU ,现在需要不影响AB直接采样(AB采样有可能是3.3V 或者5V的电平 ),我要并联一个MCU到A采样点  详情 回复 发表于 2015-3-25 15:55

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 楼主| 发表于 2015-3-25 15:55 | 只看该作者
fallen 发表于 2015-3-25 15:50$ i3 e5 ~$ T( h! A" N/ c* |9 w6 e( Y5 b
电阻分压

7 A) g1 i: ^# g" {是这样的 ,电路本事有A采样点与B MCU ,现在需要不影响AB直接采样(AB采样有可能是3.3V 或者5V的电平 ),我要并联一个MCU到A采样点 , [/ H/ T$ V# ^' a. e4 k+ Q

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发表于 2015-3-25 15:57 | 只看该作者
你采用几个电阻
* M3 g1 Z8 s) s: H* G使用分压士式! Y( Q9 }7 J0 W
# o" {3 ~0 A5 [9 N& y
只要采样不大于3.3V
* `6 T) }; s& V" N采样肯定没问题

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[attachimg]94715[/attachimg] A为采样点,A与B MCU是一直采样的,电压有可能是3.3或者5V ,现在STM32需要去读取A采样点, 但不能影响 A与B 直接的采样,( 比如A为3.5V的AD电压,怎样使B与STM32都可以读取3.5V )  详情 回复 发表于 2015-3-25 16:07

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发表于 2015-3-25 16:26 | 只看该作者
A采样点,分压,然后分别接电阻到STM32与MCU B' o& v4 Q( B* s) Y" ]( k
A采样点的电阻分压的数量级小于串联到STM32与MCU B电阻的数量级。

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发表于 2015-3-25 16:27 | 只看该作者
我的建议是你使用分压电路+ z9 Q" v$ _$ ~: U
把整个电压降下去2 }( B4 ], M7 p! T
使电压低于3.3V) P: p1 ~2 A/ p
这样采样就不会有问题
% u, j' v# ?1 K
$ |, C( w, q% A4 k' w只是采样点的电压降了一些7 W& t  P& }& Y
其他的没什么影响

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如果把采样点降点,这样会影响到B点MCU采样哦, 假设采样点为4.5V ,这是要降到小于3.3V ,B点MCU肯定会影响采样错误  详情 回复 发表于 2015-3-25 16:35

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 楼主| 发表于 2015-3-25 16:35 | 只看该作者
bingshuihuo 发表于 2015-3-25 16:27  _' S8 M3 q1 @! H( O4 E+ E2 M+ P
我的建议是你使用分压电路
3 m5 L1 E" R" r& @2 m9 W4 F把整个电压降下去1 o4 o4 U" Q0 `  c
使电压低于3.3V

' Q! A' v6 D0 W4 q3 h4 X0 j' O如果把采样点降点,这样会影响到B点MCU采样哦, 假设采样点为4.5V ,这是要降到小于3.3V ,B点MCU肯定会影响采样错误
4 e6 S1 z& x! |

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发表于 2015-3-25 17:02 | 只看该作者
楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压

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我做的和你不一样:我的是3.3V的MCU去检测电池,电池电压最大4.2V,所以我是分压后再接入MCU的,然后测得的数据再经过换算得到实际电池的电压。 你的意思就是两个MCU(A和B)都需要对A点进行AD检测,而且两个MCU的ADC  详情 回复 发表于 2015-3-25 19:40
分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!  详情 回复 发表于 2015-3-25 17:30

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 楼主| 发表于 2015-3-25 17:30 | 只看该作者
myl593799546 发表于 2015-3-25 17:02
3 Y9 J  _$ \' G楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压
! K& u# x. A3 {3 x8 Q
分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!
; q; I7 y8 w- R6 F7 `4 d

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明白你的意思了 你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM32再接一路过去读取A采样点的信号,是这样吗? 如果这样那就直接分压,再串电阻到STM32,影响的就是阻抗,如  详情 回复 发表于 2015-3-25 18:45

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 楼主| 发表于 2015-3-25 18:49 | 只看该作者
fallen 发表于 2015-3-25 18:45' Y9 m- ]# q7 V4 k1 Q
明白你的意思了
6 R' X: z, L5 e( i' H+ i6 E你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM ...

4 D. F$ h: R- T# t& F是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用,    比如A点4.5V电压值,STM32直接串电阻不影响B的采样吗?) S$ J. f9 h8 j& k

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就是阻抗的问题,只要足够大,即认为不影响。  详情 回复 发表于 2015-3-25 19:55

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发表于 2015-3-25 19:18 来自手机 | 只看该作者
你怕影响的话,看直接从采样点拉一个跟随器是否可行,应该不会在影响前后了吧

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能具体点吗? 应该怎么做 ,谢谢!  详情 回复 发表于 2015-3-26 20:21

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发表于 2015-3-25 19:55 | 只看该作者
i265 发表于 2015-3-25 18:49& R! P/ v$ B2 J4 U: n' M) A
是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用,    比如A点4.5 ...

& X2 E- j! ]2 p9 B+ P4 Y0 `' x就是阻抗的问题,只要足够大,即认为不影响。5 I, S& F7 O* S
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