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part99 发表于 2013-8-29 09:48
) z, E$ B9 ^% r& _, _! Z/ { ?+ |- S1. C1是为了削弱时钟产生的尖峰,减低EMI的风险;C1的取值与DDR时钟的速度有关,一般几个PF;
2 k; q/ p1 j" p- V( V) N( K& z2. 100欧姆 ... ' O( ^; o) g' \, ?! }' v# S
没有上传原理图。本来想上串Layout的此部分的截图的。但是上传不了(我的图才2.54M,但上传时网站弹出提示说太大了受限制不能上传。)。
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6 M! {2 r: _9 ]. N6 M9 ~- b! Y这是原厂的Layout,我们只是使用他们的此部分Layout。现在在调机,以往DDR3的SCK频率可以跑432MHz左右的,现在只能跑到312MHz(R1=R2=0R,C1=10pF)。
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在网上看得,C1的作用是为了减少由T型分支反射回分叉点的差模反射。不知道这是什么样一个原理?如果我是使用不断更换器件(更换不同电阻或电容)去调试,那么我应该是以怎样的规律去更换?(从小到大的方式,还是从大到小,还是别的规律?) |
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