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STM32 AD采样问题?

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发表于 2015-3-25 15:48 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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     关于STM32 AD采样, 我们知道当AD输入采样值为3.3v以内时,MCU可以采样到,但如果高于了3.3V,MCU就采样不到! 针对于这种问题怎么解决,各位有没有什么办法解决,个人观点是不是可以用什么电路进行转换或者有什么IC可以识别高于电源电压的AD采样值! 2 F) o; h' l" L7 d
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发表于 2015-3-25 19:40 | 只看该作者
myl593799546 发表于 2015-3-25 17:02! P4 o  P. \/ }1 F
楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压
, t  _' t% l$ c3 X0 m' Q) ]* S
我做的和你不一样:我的是3.3V的MCU去检测电池,电池电压最大4.2V,所以我是分压后再接入MCU的,然后测得的数据再经过换算得到实际电池的电压。
+ R3 Z$ f- q' k; c( g6 {你的意思就是两个MCU(A和B)都需要对A点进行AD检测,而且两个MCU的ADC的参考电压不一样,假设分别A为3.3和B为5V,而你要测的点电压为4.5V,这样你如论如何都需要分压吧,要测的点经过分压后(3.3V内)再接入A,B则直接接测试点
5 v$ C: S+ [/ j* D" `) @; F! t9 p, ~" F% }+ d3 O

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发表于 2015-3-25 18:45 | 只看该作者
i265 发表于 2015-3-25 17:30  ?6 J" p6 R0 v
分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!
) l+ T1 ]: e9 G- m/ ^3 C1 T
明白你的意思了
+ G0 C$ \# v0 f7 |7 H你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM32再接一路过去读取A采样点的信号,是这样吗?
0 v/ ~2 h( f! E如果这样那就直接分压,再串电阻到STM32,影响的就是阻抗,如果你的阻抗够高,分压的级数与串联的电阻的数量级大于MCU的输入阻抗,即可看成不影响。0 f! k. s. u, Z: Q/ M7 I0 b: u7 I& t

点评

是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用, 比如A点4.5V电压值,STM32直接串电阻不影响B的采样吗?  详情 回复 发表于 2015-3-25 18:49

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 楼主| 发表于 2015-3-25 16:07 | 只看该作者
bingshuihuo 发表于 2015-3-25 15:57+ y8 H6 \0 O6 K* b
你采用几个电阻
5 w4 e/ |0 {+ q, c使用分压士式
" E. F/ R3 u  R/ \+ K  h+ M+ m
  A为采样点,A与B MCU是一直采样的,电压有可能是3.3或者5V  ,现在STM32需要去读取A采样点, 但不能影响 A与B 直接的采样,( 比如A为3.5V的AD电压,怎样使B与STM32都可以读取3.5V  )
) o. `/ t- k/ h4 l% F

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发表于 2015-3-25 15:50 | 只看该作者
电阻分压

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是这样的 ,电路本事有A采样点与B MCU ,现在需要不影响AB直接采样(AB采样有可能是3.3V 或者5V的电平 ),我要并联一个MCU到A采样点  详情 回复 发表于 2015-3-25 15:55

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 楼主| 发表于 2015-3-25 15:55 | 只看该作者
fallen 发表于 2015-3-25 15:50, a3 ~) x+ n/ ~, B
电阻分压
3 C' R6 `3 T: K4 I7 Y% ?2 P
是这样的 ,电路本事有A采样点与B MCU ,现在需要不影响AB直接采样(AB采样有可能是3.3V 或者5V的电平 ),我要并联一个MCU到A采样点 8 N: j! e0 ~" K; ~) [

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发表于 2015-3-25 15:57 | 只看该作者
你采用几个电阻' ?# P+ y, L$ s7 _. k
使用分压士式
' H5 g& @, H* C' C& p0 o! s
7 V8 j1 O0 S$ z2 r/ [) m& [只要采样不大于3.3V* F' [4 L% Q1 u! G4 A- i( \
采样肯定没问题

点评

[attachimg]94715[/attachimg] A为采样点,A与B MCU是一直采样的,电压有可能是3.3或者5V ,现在STM32需要去读取A采样点, 但不能影响 A与B 直接的采样,( 比如A为3.5V的AD电压,怎样使B与STM32都可以读取3.5V )  详情 回复 发表于 2015-3-25 16:07

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发表于 2015-3-25 16:26 | 只看该作者
A采样点,分压,然后分别接电阻到STM32与MCU B
7 k3 a; o9 }  _7 ZA采样点的电阻分压的数量级小于串联到STM32与MCU B电阻的数量级。

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发表于 2015-3-25 16:27 | 只看该作者
我的建议是你使用分压电路3 ^$ S/ c9 K* O4 c  i
把整个电压降下去
1 g# j2 L9 b; j5 b4 Z使电压低于3.3V
- O0 g$ ~9 M5 K0 _! l/ g+ z这样采样就不会有问题& B+ X, n% y* \1 d

2 T, H' M( u: b5 n只是采样点的电压降了一些
4 O& v* n! L( D0 n其他的没什么影响

点评

如果把采样点降点,这样会影响到B点MCU采样哦, 假设采样点为4.5V ,这是要降到小于3.3V ,B点MCU肯定会影响采样错误  详情 回复 发表于 2015-3-25 16:35

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 楼主| 发表于 2015-3-25 16:35 | 只看该作者
bingshuihuo 发表于 2015-3-25 16:27
7 t$ D2 |9 ]) h, N我的建议是你使用分压电路
3 p. c0 r) K4 m+ G6 v& c& S把整个电压降下去. Y- q' e' O" r1 ?. m
使电压低于3.3V

+ o8 ]* z' M/ n  t* n' _如果把采样点降点,这样会影响到B点MCU采样哦, 假设采样点为4.5V ,这是要降到小于3.3V ,B点MCU肯定会影响采样错误
% e, v0 G  J& W) a

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发表于 2015-3-25 17:02 | 只看该作者
楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压

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我做的和你不一样:我的是3.3V的MCU去检测电池,电池电压最大4.2V,所以我是分压后再接入MCU的,然后测得的数据再经过换算得到实际电池的电压。 你的意思就是两个MCU(A和B)都需要对A点进行AD检测,而且两个MCU的ADC  详情 回复 发表于 2015-3-25 19:40
分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!  详情 回复 发表于 2015-3-25 17:30

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 楼主| 发表于 2015-3-25 17:30 | 只看该作者
myl593799546 发表于 2015-3-25 17:02: U: x4 L' G! \. i6 w0 O1 d
楼主应该是做电池电压检测吧,哈哈,我也做过,,确实是要分压
- K0 D( J1 @$ r/ ^1 F
分压不会影响原来的采样点吗,方便加下qq,请教下兄弟!
- z6 H& H# [/ U& q& X; \- m

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明白你的意思了 你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM32再接一路过去读取A采样点的信号,是这样吗? 如果这样那就直接分压,再串电阻到STM32,影响的就是阻抗,如  详情 回复 发表于 2015-3-25 18:45

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 楼主| 发表于 2015-3-25 18:49 | 只看该作者
fallen 发表于 2015-3-25 18:45! o! C5 z" g+ s* T- [+ L
明白你的意思了; b; W8 y6 H; l: Q9 f& F  e- w1 \- B
你的意思是:A-B是固定的采样点,程序也是固定的,是吗?也就是不能修改,而你是要用STM ...
& y. I& ?# f: ^6 R2 q4 k
是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用,    比如A点4.5V电压值,STM32直接串电阻不影响B的采样吗?
* _8 K0 {- n3 K1 s# C( z

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就是阻抗的问题,只要足够大,即认为不影响。  详情 回复 发表于 2015-3-25 19:55

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发表于 2015-3-25 19:18 来自手机 | 只看该作者
你怕影响的话,看直接从采样点拉一个跟随器是否可行,应该不会在影响前后了吧

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能具体点吗? 应该怎么做 ,谢谢!  详情 回复 发表于 2015-3-26 20:21

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发表于 2015-3-25 19:55 | 只看该作者
i265 发表于 2015-3-25 18:499 L3 w' l3 r( }2 {
是的 ,AB是固定的采样(不能动的),然后我另外一个STM32需要去读这个电压值有其他作用,    比如A点4.5 ...

# X; R  U3 G: V0 v# s: P就是阻抗的问题,只要足够大,即认为不影响。
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