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下面提供美国军方的一个失效率表: 7 l0 N F" N J2 ^7 q4 l0 J
摘自[微处理器接口技术]1983.5版-315页
# L4 `7 O% y5 P3 u , v# S+ [3 m4 H9 v3 @* N; m
部件 ..................... 失效率(%/1000小时)
9 l3 I( E$ ~1 N& K8 }) j( x, i 1.电容器 ................. 0.02 0 a7 q( P- \' X1 X5 N
2.连接器接点 ............. 0.005
: c: V" D: m; t& y6 C; s( B 3.二极管 ................. 0.013 3 s! ?; y' ?, o
4.集成电路(SSI,MSI和LSD) . 0.015
" M+ s6 f' H% ]" f( s& a 5.石英晶体 ............... 0.05 , Y' d# x3 S t, q- x
6.电阻 ................... 0.002
( ?% U2 h- ]+ {( E 7.焊点 ................... 0.0002 ; [ S1 z8 M9 t. S4 }
8.变压器 ................. 0.5
# I I, F% u" r 9.晶体 ................... 0.04 9 [$ y% P, L! T1 H) H
10.可变 ................... 0.01 + `( j2 u* q2 l. p# m1 U5 r1 D- [* S
11.绕线接点 ............... 0.00002 ------------!
) ~) S% h9 |; ^) |6 K; d! q
4 O3 }. M6 S+ Y 平均地看,某些部件的寿命长于另一些部件。
: ? z- [, B. t0 O 当然，这个表是假定了所有部件都是合理使用的。
( f8 P$ @4 A) [6 M7 U 这些数字是根据对每种部件的大量样品进行加速寿命试验所得到的。 |
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发表于 2009-2-15 21:47
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