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ICT测试用的测试点一般多大,间距要求多少?

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发表于 2015-11-27 10:41 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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最近做的一块板子,马上量产了,工厂要求板上测试点直径1mm,间距1mm(应该是边到边),方便做夹具测试,板上原来的测试点是0.8mm直径的。我觉得改起来有点麻烦,有部分测试点在BGA背面区域很密集的,想求教一下高手,一般ICT测试用的测试点有什么要求,一定要1mm以上吗?
5 G  D  W5 O& @2 ^
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发表于 2015-11-27 10:55 | 只看该作者
按工厂要求来,太小了测试针顶不到

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 楼主| 发表于 2015-11-27 11:11 | 只看该作者
哦,不过这家工厂有点不靠谱,最初画板子的时候,有两块2层板,要求线宽不低于8mil,间距不小于8mil,过孔不小于12-24mil,这样的要求太折磨人了。所以对他们测试点的要求也很怀疑,最初要加1.5mm直径的测试点,太过分了,只考虑自己好测,不考虑别人死活。所以想了解下行业标准,以免被忽悠。

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发表于 2015-11-27 11:43 | 只看该作者
也差不多,治具时,顶针间要有点距离
9 y+ ~* b, `1 E6 t我们工厂要求是测试点直径1.2MM,测试点中心间距2.0MM以上

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 楼主| 发表于 2015-11-27 12:11 | 只看该作者
好吧,请问楼上的板子面积大吗,做的什么产品。5 ]$ y& P# S- @. O! F

3 }) x3 R" `! Q% ^$ k! X$ J找了份12年的资料,对测试点要求如下:
" X* g. t% h3 X5 u8 U% l9 e测试点的设计要求:% n2 U" a0 l6 @2 b9 g
1.定位孔采用非金属化的定位孔 ,误差小于0.05mm。定位孔周围3mm不能有元件。
3 _* {1 r7 g) G2.测试点直径不小于0.8mm,测试点之间的间距不小于1.27mm,测试点离元件不小于1.27mm,否则锡会流入到测试点上。
7 H7 d$ L; q; E3.如果在测试面放置高度超过4mm的元器件,旁边的测试点应避开,距离4mm以上,否则测试治具不能植针。, w/ f9 [8 d# R
4.每个电气节点都必须有一个测试点,每个IC必须有POWER及GROUND的测试点,且尽可能接近此元器件,最好在距离IC 2.5mm范围内 。
, D- [* o/ D" ~& e: ]+ C* V5.测试点不可被阻焊或文字油墨覆盖,否则将会缩小测试点的接触面积,降低测试的可靠性 。; B  S9 L7 S& L, n: D; |: _
6.测试点不能被插件或大元件所覆盖、挡住。
) G7 ^3 h: @& g7 ^7.不可使用过孔或DIP元件焊点做测试点。
. ^. U) j2 {& }+ M  d! N4 U* J     ICT植针率需要达到100%,元件可测试率要达到85%以上。

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发表于 2015-11-27 12:32 | 只看该作者
平板
0 j! B. p7 S7 b; F4 ~# H你的这份资料要求还是比较全面,以前做过日本客户的板,要求也是一大筐

点评

平板有这么多空间加测试点吗?测试点加的多吗?好吧,看来我也只能挤挤了。  详情 回复 发表于 2015-11-27 15:42

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 楼主| 发表于 2015-11-27 15:42 | 只看该作者
5718366 发表于 2015-11-27 12:32
3 i+ D4 C7 D0 M: }9 {7 u5 G3 C平板& S  W4 U4 G4 n- J  ^( }9 h4 [! H# r
你的这份资料要求还是比较全面,以前做过日本客户的板,要求也是一大筐
5 g8 t* p! h) D# q
平板有这么多空间加测试点吗?测试点加的多吗?好吧,看来我也只能挤挤了。' ]3 \* @3 S/ |- N5 a

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发表于 2015-11-28 14:22 | 只看该作者
各工厂设备不一样,要求也不一样 ) x8 W" A; d, l4 c7 n1 {6 w1 \; {
1、工艺设计的要求3 f* t' s1 f% r! G
定位的精度、基板制造程序、基板的大小、探针的类型都是影响探测可靠性的因素。 (1)精确的定位孔。在基板上设定精确的定位孔,定位孔误差应在 0.05mm以内,至少设置两个定位孔,且距离愈远愈好。采用非金属化的定位孔,以减少焊锡镀层的增厚而不能达到公差要求。如基板是整片制造后再分开测试,则定位孔就必须设在主板及各单独的基板上。4 e8 [3 F7 \3 Z! _0 e
(2)测试点的直径不小于0.4mm,相邻测试点的间距最好在2.54mm以上,不要小于1.27mm。
8 y5 h  H5 P8 @+ w(3)在测试面不能放置高度超过6.4mm的元器件,过高的元器件将引起在线测试夹具探针对测试点的接触不良。  G6 j% Z! U' n# R. k
(4)最好将测试点放置在元器件周围1.0mm以外,避免探针和元器件撞击损伤。定位孔环状周围3.2mm以内,不可有元器件或测试点。
5 C% o, Z4 l. O! ]: _(5)测试点不可设置在PCB边缘4mm的范围内,这4mm的空间用以保证夹具夹持。通常在输送带式的生产设备与SMT设备中也要求有同样的工艺边。6 ^3 f3 O3 L6 u
(6)所有探测点最好镀锡或选用质地较软、易贯穿、不易氧化的金属传导物,以保证可靠接触,延长探针的使用寿命。. ^6 `' Q6 x: P  a2 [) V: M
(7)测试点不可被阻焊剂或文字油墨覆盖,否则将会缩小测试点的接触面积,降低测试的可靠性。

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发表于 2015-11-30 09:21 | 只看该作者
這些資料都有用,開發時可以注意到,謝謝
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