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如何把芯片的EMI消灭在源头----从封装入手

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发表于 2015-2-15 16:46 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 pjh02032121 于 2015-2-16 11:45 编辑 4 E- p8 }: f  @/ r

) K+ k9 b- [: h* e8 B& L下图是一块1994年的pcb,现在看来是很简单了,但是20多年前却是绝对的高大上。% m* D! J* Y, c3 R1 P9 n& l
它是一个ECU(engin contol unit)模块,是Motorola(摩托罗拉)给Chrysler(克莱斯勒)专门定做的发动机引擎控制单元,地地道道的发动机心脏。
3 ~, c. Y2 `* H/ H/ `(那个时代的巨头们的风采,啧啧...)
5 g5 P) W* q2 E2 T3 x+ w  a. _5 W- G( Q
" ]) G' ]( j4 y# B8 q3 T) i4 F汽车电子对可靠性的要求,基本和军工是一个等级,所以对EMC的要求也是相当的高。$ q8 M& ]8 e3 g- G

. j, Q0 j# |/ e" z  x
* T1 F+ r9 C3 c' E3 ~图中红圈中是PCB上贴装的一个mcm芯片封装(QFP的,BGA技术还没商用),内部封了3个裸芯,三个裸芯具体的功能就不讲了。
/ z+ H( I& f& O1 c) S* u为什么要把三个芯片做在一起呢?(那时多芯片封装还极少商用,主要是成本高,技术不成熟)# z' h6 K7 w' y1 z
PCB上有大把空间,三个芯片单独封装完全可以放的下。
% z' F+ k9 E/ M" E* P1 Q但是由于单独封装,芯片之间的互联路径太长,造成EMI辐射。问题解决不了,不得不尝试新技术mcm。$ f  B/ h. X! y' {# ^
mcm将三个裸芯放在一个封装里,互联路径短了,信号辐射就降下来了。
4 E7 D  I/ d' B- a! M. L) j$ Q0 `  W2 o4 k5 P) K8 P' X7 ]
下两图是他们在采用mcm技术前后的emc测试对比。
5 H" w4 ^/ a3 m. C$ L
7 Y8 G4 _0 T$ r5 @3 W; n
6 u; p* d8 N% q+ {所以封装的小型化,高集成度不失为解决EMI问题的一个好方法。3 A' R; @9 }0 N# Y+ \+ e& k# W
未完待续...
! J0 ^/ V& B3 {, H/ C
3 d7 b* m9 `* J& W继续
3 E. t" Q5 i8 \; u芯片封装里的电磁辐射来自哪里,看下图是贴在pcb上的封装好的芯片,我们常用的芯片基本都是这种塑封封装。
8 p% w, x$ {1 ]$ B; q& S从外观我们看不出什么来,芯片被塑封料完全覆盖。8 e: I; G; n" a- W
0 m% [1 R; J& K3 B. Z
3 a$ X4 d) z$ b+ C, N7 Q4 s, U4 j
继续看下图封装内部的图片,可以看到封装内部的互联金丝、基板走线、以及芯片上的布线等所有的互联结构。! u/ ^& d/ {  Q, E
塑封料只能对封装内部起到物理保护和化学保护,风吹雨打没问题。但塑封料对电磁辐射完去没有任何招架能力,所有的电路都是完全暴露在电磁环境下的。(可以想象一下,我们的pcb所有的封装塑封都去除掉后的样子,那是一大堆的光屁股裸奔芯片5 z& X9 n- H7 d1 z9 d! F9 G
封装内部的辐射直接到空间,空间的辐射直接到封装内,尤其高频的芯片,更易产生EMI问题。( @* Y; z6 }* L* N7 Y+ {2 |
+ C; F* `) X  A3 a8 \+ N
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IC封装设计

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发表于 2015-2-16 10:11 | 只看该作者
顶礼膜拜。。。。。

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发表于 2015-2-16 10:43 | 只看该作者
20年前绝对是顶尖技术!

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发表于 2015-2-16 13:31 | 只看该作者
第一次看到芯片内部实物图
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发表于 2015-2-16 13:58 | 只看该作者
20年前啊,想都不敢想,老外真是先进

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发表于 2015-2-16 15:31 | 只看该作者
见识了,版主

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 楼主| 发表于 2015-2-23 13:22 | 只看该作者
本帖最后由 pjh02032121 于 2015-2-23 13:37 编辑
/ l7 f5 g4 S* z% A, b5 K" l, T. l' N
继续
. q" X/ z% G. |  p小型化只是减小了EMI,并不能完全完全消除,所以sip封装有时候需要进一步的做EMI工作,终极的隔离屏蔽措施。5 \6 `* c5 k- P2 b+ u
下图分别是屏蔽盖、供形屏蔽、金属封装的。
0 B$ H! e8 f1 y
5 v/ Y+ e1 `0 U) y$ O屏蔽盖,有效的解决EMI问题,无论在封装级还是在系统级都是常用的,也是成本最低的措施。
/ H: ^( W3 T2 Q* q9 N, r. c1 p+ _' h
3 a" K# l/ x3 z* T' L8 F. ?" I
共形屏蔽,在塑封的表面溅射一层金属,并与IC载板的地层连接在一起,这样所有的元器件都被包裹在屏蔽层内,与外界电磁环境完全隔离。
% T6 z0 Y# ~7 |: A6 m- @* V
1 }% W/ ?2 x9 n8 E
& o. X+ s0 W% O: y* y( A) s6 t金属屏蔽,用金属壳体将芯片等完全密封起来,屏蔽效果最佳,成本也高。" `& P& k, [" Q5 T9 x" D
$ f/ Z6 g/ g" C: T
最近几年最IC载板内埋器件的厂家也越来越多,这也是在封装级解决EMI的一个独到方案。
% ?' n+ p1 w/ M4 N* ]( q/ I' n3 M+ U详情参阅:https://www.eda365.com/thread-105112-1-1.html
$ b/ I4 H/ A6 d% W1 l% D% C7 g4 M# b! _; d% V: C$ c: F
0 l# ^: g/ [# l, \' c" o/ c; G
对sip来说,采用屏蔽盖和共形屏蔽层,将封装内部电路与外界电磁环境完全隔离,对去除EMI效果相当好。
* I0 R' s1 v3 X0 Y3 A1 ]9 J但由于屏蔽层距离芯片太近,处理不当却会适得其反,引起封装内部电路的相互干扰。
, d' P! n# w4 ^' ^( A& ~如下图分别是共形屏蔽和屏蔽盖挖空处理,即将敏感部分或干扰源部分的屏蔽层挖空(与地平面分割原理类似),防止引起封装内部干扰。
/ \" d4 O9 R/ @, S* v3 e0 j    9 G4 r+ W: F) ?/ V5 p8 x1 m5 c4 \

) f" p0 K! R! }" l* t5 t4 ?
5 {( ^! e2 I7 w, a$ H% S8 o2 x% K
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发表于 2015-3-10 19:56 | 只看该作者
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发表于 2015-3-11 09:29 | 只看该作者
以后都内埋了,做LAYOUT的还有价值吗?

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发表于 2015-3-11 10:17 | 只看该作者
20年前绝对是顶尖技术!以后都内埋了,做LAYOUT的还有价值吗?

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发表于 2015-3-15 09:06 | 只看该作者
可望而不可即的,都没接触过这方面

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发表于 2015-3-15 11:13 | 只看该作者
厉害& X( W5 v/ S) }

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发表于 2015-3-16 09:55 | 只看该作者
很好很强大的技术啊

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发表于 2016-1-11 11:39 | 只看该作者
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发表于 2016-2-22 16:49 | 只看该作者
太厉害!最近看到新闻《苹果已委托星科金朋和艾克尔负责iPhone 7主要芯片的EMI屏蔽处理》,是不是就是用金属层隔离呢?这种方式能够实现所说的“能更精细地组装电路板,一旦芯片之间的安装空间减小,多出来的空间就能用来安装更大容量的电池”吗?还是采用的内埋的方式?求大神不吝赐教!

点评

内埋成本太高了,iphone7主要还是采用溅射金属--共形屏蔽。  详情 回复 发表于 2016-2-22 20:06
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