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发表于 2009-4-22 18:44 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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请教各位高手! s1 ]: V+ P$ y4 H' w3 m: V/ u4 w9 J
  400M的差分线在布线的时候打过孔对信号的影响大吗?
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 楼主| 发表于 2009-4-22 18:53 | 只看该作者
想用hyperlynx做仿真看看过孔的影响,但是所用的D/A芯片没有ibis模型,我该怎么办,望高手指点!

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发表于 2009-4-22 23:03 | 只看该作者
hyperlynx里是有mod模型,可以自建,关键是slew参数!!!
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发表于 2009-4-23 08:32 | 只看该作者
如果关心过孔的影响,其实不一定需要做通路仿真,channel analysis也是可以的。Hyperlynx也可以导出通道的S参数,结合你的信号接口要求来看loss是否符合

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发表于 2009-4-23 10:16 | 只看该作者
过孔的影响是有点,但是对于400M的信号来说还好,估计你是设计RAM芯片吧,走线的话,最好靠近bottom的走线层,减少stub.

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 楼主| 发表于 2009-4-23 12:05 | 只看该作者
请问在hyperlynx下的brdsim中,怎么提取差分线?

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 楼主| 发表于 2009-4-23 12:06 | 只看该作者
我想过孔的影响是不是主要是阻抗不连续带来的反射问题?

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发表于 2009-4-24 09:28 | 只看该作者
如果关心过孔的影响,其实不一定需要做通路仿真,channel analysis也是可以的。Hyperlynx也可以导出通道的S参数,结合你的信号接口要求来看loss是否符合3 e5 F  o8 q& V! d. W8 y9 g
wakinoda 发表于 2009-4-23 08:32

3 J- N( T8 S+ o4 j7 E; J/ r
' B1 w' }. Q( x" F0 {S参数是个不错的办法。(见过国外的一个discussion,有讲hyperlynx、HFSS对于S参数提取的结果相对可靠,SQ的S参数提取和实测差别较大)
$ d) b3 @, j7 h9 c不过仿真终究是仿真,条件允许的话还是用VNA之类的测试设备获得S参数。
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发表于 2009-4-24 09:32 | 只看该作者
本帖最后由 forevercgh 于 2009-4-24 09:34 编辑
2 ^8 ?- t3 R, ~, O+ q. s
请问在hyperlynx下的brdsim中,怎么提取差分线?
& N! Y2 {0 f' T, T5 ^7 b) s6 h' p2 Olingyun2000 发表于 2009-4-23 12:05

, u* F9 n1 H# [) J, x) V) A6 O0 }0 m# g2 L
brdsim什么DD?应该是boardsim吧
1 D7 E6 ^# L7 a: j4 |4 C' l) s; \1 f; i- b* f! |1 p" @
enable crosstalk功能就能把差分提取到linesim中,不过可能会将相互靠近的多个网络提取过去(这个问题mentor也很郁闷,希望在后面的版本中有所改善),在linesim中将不需要的网络del就行了,另外,需要重新定义差分对线间coupling(based on physics information of the differential pairs)
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发表于 2009-4-24 09:36 | 只看该作者
我想过孔的影响是不是主要是阻抗不连续带来的反射问题?
# q9 P' Y, k7 A, o! H  M  Flingyun2000 发表于 2009-4-23 12:06

' z, X1 o( f( L# g
! v) P3 O7 ^$ O! w反射是其一,同时过孔可能带来信号回流路径的变化
sagarmatha
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