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[射频] ADS信号完整性PCB串扰仿真

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发表于 2019-9-27 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x

. Q1 {# b' ~2 x, `' ^% g
1 Q5 j: I3 H. I* t( z0 L' k
ADSkeysight公司的一款比较强大的仿真软件,是由早期HP EEsof发展而来的,主要应用在微波射频领域,经过在Agilent公司的慢慢孕育长大结合仪器设备的优势,目前ADS不仅仅微波射频领域的工程师离不开它,近些年来,高速信号完整性领域也越来越多的工程师喜欢上了这款“不要不要”的软件。
, D( l7 D. J8 P8 q2 J! G8 |/ K' J: l" t* C8 c; C

3 e' u7 O0 z9 F! ~/ l  G. }5 n  b' ]鉴于国内外的很多ADS的资料都是微波射频领域的,接下来,我们会慢慢的分享一些ADS在信号完整性领域经常使用的小功能和技巧。今天给大家介绍使用ADS进行串扰的仿真。$ Y! p! R# r9 Y$ x$ U3 K
. z- w% u1 e; Y9 _3 L3 q
) X+ v( B. y5 S8 x$ H
关于串扰的理论,大家可以参照《信号完整性分析》《信号完整性揭秘》等书籍。
8 _( N: U( g1 ]# X3 U
7 ?& }( R2 ~1 P3 q7 A' D7 F4 T: U

) \/ Z5 |* D9 s0 J5 s大家都知道,串扰与很多因素有关系,如传输线耦合长度、信号的上升时间、传输线的间距等等。这里就以这三个因素举例子对串扰做一些定性的分析:6 @, a. j# a3 p1 ]4 B7 h8 {
$ o8 @9 ?% c: G- H

5 Q' k  z5 N" M7 T8 S0 ]ADS中搭建仿真的拓扑结构,这一点非常的重要,因为要是拓扑结构搭建都有问题,那么就使得仿真结果变得不可分析,所以,在如下的仿真中,都尽量以单一变量做仿真实验。
. `, \, k8 M* M8 ?0 K# W( [$ @  Z8 Z
7 N; n& A( y  F) B8 @9 I
; c: t& H7 n7 I" ~( p- V
# @4 Y8 J1 f5 J+ T9 x
& R$ q9 W0 i" c' |6 K

9 B2 B# \7 V8 d$ P+ g# }/ \/ m得到的串扰结果如下(蓝色为近端串扰NEXT,粉色为远端串扰FEXT):( g: L2 T. [6 g8 x+ u$ H

. U2 s" A& y2 r% V! K7 X5 }
, Y! c4 v- ~3 d0 b3 h9 e0 @# D  {7 o+ h( l" Q8 V+ R1 t+ P
, y( G' ]4 D$ a4 p: Y& N" W2 A

5 T2 \1 l, \7 g* }: C" ?% @; U1上升时间:
* x, @, u- w, S8 m
7 m3 `4 f; Z* s, l  q* ~: g: @, D% N' n+ Q

# r4 A5 K3 `& r- }' U" W; ]0 y; d- e# y  N& D: g
考察上升时间时,其他的参数都不变,只改变上升时间的变量,所以需要加入变化参量和扫描参数,如下所示:! m( W) E( e/ L( _  l1 p/ Q- x
# @0 ^" C( V* |
. m; ^- ?- S, g- c- E
) e9 v( P- l$ N# W4 f

+ a0 S) e; ?: `7 i3 X$ T+ r
( c9 U7 e( ~( z: R4 n$ S/ Z* J7 n

. _+ P$ p, ]# d' h, J8 V上升时间从50ps开始,300ns截止,每隔50ps仿真一次,得到的仿真结果如下:
% e# _( Y; `2 P3 N+ N4 _8 A2 f" O  u8 f2 j7 m. C% ^! i

- y6 ^: E, A, [0 p3 B" ^$ G0 G2 I
! Z) r, d5 A: ~8 m7 P
显然,随着上升时间边长,其远端串扰变小,饱和长度变大。& d: p$ F% o( w
% }; H9 }) U! Y
0 c; V' b+ H! r1 W3 i+ [- }2 |

( d$ Y9 ]) U% ^) g  p, {/ M) N4 ~2耦合长度:
4 |1 k5 h$ G( ^% j* B  {2 y3 w( a0 H# _8 Y$ l* y0 ]

" G$ |( P7 ^: G( o5 I* v3 v5 T& b' t) x, E7 J& t5 D
) T- y! n2 D: L, r$ h
改变耦合长度,其他参数保持不变。长度由1inch开始,截止到6inch,每隔1inch仿真一次,变化参量和扫描参数如下:- g: Y( G7 H. t
1 P1 g6 R: \( R5 ~7 `# [& f  V) ~+ Y

% s" A' D. S7 ^# w" H5 W/ L* N7 U! x+ h4 G, P% q4 F+ Y

$ L) C8 Q) W1 [
8 D& k3 d% Y+ G" z% F1 @0 b9 G
# f; h* T$ q; R( n, H4 w
得到的仿真结果如下:
. X- Z- x$ d# r
/ i0 t( l( S2 ^' g6 X5 X5 Z2 I" a
; \$ h- c9 ]5 m; b/ w4 p% Y
随着耦合长度的增加,其远端串扰一直在增加,在1inch之前就已经达到饱和长度,所以在此实验中,1inch之后增加耦合长度对近端没有影响。
9 G: ?5 g# [6 M  q/ Z0 {% V, B
$ s9 S! p: b+ a0 ~
  ?3 S  A5 ]5 n7 m3传输线间距:
9 c+ |' h8 c0 r1 t. F) D$ K% z4 A! |7 D$ p6 N9 A0 C' m! J1 r
* `: ^; Q4 A* I/ V5 B, u1 K1 l% G8 v& |

0 f' U9 \0 l, m6 C0 @) b: B3 n  S  ]+ w2 x4 i  d2 k
改变传输线间距,其他参数保持不变。间距由4mil开始,截止到10mil,每隔1mil仿真一次,变化参量和扫描参数如下:; L. H" @7 W) a, Q3 v
- o+ Z: N% K2 x) J8 `

0 u! }$ ?: h; d5 O

$ ^" c' x3 Y8 F% w$ L( [
" ~; E' ~* J: ?8 ~* n* R7 g8 I
' l8 M5 V  r% Q* x. D% I
- n- ?% V* c1 ^# w% ^

( W, ~+ A6 N" p0 S3 o5 D得到的仿真结果如下:
- N/ B. p/ Y) t8 `( O) L4 @; @

- D  @: @1 T( p0 y4 p9 W+ c# y. ?* T5 f0 i- r
由仿真结果可知,其间距越大,其近端串扰和远端串扰都会变小。9 }( u! E0 ?6 C3 h" T+ H

4 ]' [* |# d7 Y/ k! x, d由于ADS对数据的处理比较好,所以在以上实验中,还可以进行很多数据的测量,这里只是讲解串扰的参数sweep的仿真,所以没有对数据处理做进一步的阐述。
0 ?1 B9 T- S% x2 Q- _# u1 b& @) S8 z" P! \/ e) n' x2 b4 b% F
4 R5 Q$ u6 \! C1 p" K
很多时候我们都在死记硬背很多公式和结论,记得住也记得对当然很好,但是如果记不住也不知道对不对,还不如使用一些仿真软件对相关的问题进行仿真,这样我们可以自己得到很多实用的经验和结论。
( k6 N6 u3 g2 P. b" Q$ K5 D6 e
+ B4 c3 ~+ \2 D2 x. ~; w. E% e' V6 p$ r' h; E3 B

& a. S) n; {1 h% H: f) Q
+ }% a! w$ q* h6 s( n8 h( o7 m0 _; c# X3 G1 U+ _! g" q& V7 H
更多精彩请加入“中国射频微波微信第一群”, 先加徐老师微信号:15989459034,注明公司,射频领域及方向,通过验证后加入。(注:本群属纯技术研讨群,销售代理等非射频技术人员勿加)!?
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