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$ i5 M# y0 m% R( ~2 E1 x分析:测试数据单支较多,多为24M倍频,辐射超出限值将近20db。
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整改后的测试数据:
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如图红圈位置垫导电泡棉,使之与屏幕后铁壳良好接触。' |: f3 {# l$ J6 }
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整改措施二:
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5 m, D+ B5 ^0 r H7 N由于天线效应,接上耳机后辐射超标严重,于是需对耳机端口滤波,在耳机左声道、右声道、
' t3 f( H/ w* v: n' R检测脚及DGND处串接磁珠进行滤波(需注意:磁珠应在靠近耳机座的地方放置,耳机走线尽量不打过孔。)) r* G/ u0 o1 c$ R6 p! ?, i# W
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整改措施四(关键):8 g/ J. U" T3 u6 l
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0 ~# n# N& Y+ ^+ q SSDCP2601AF应用电路图$ i d# u( I0 r0 n
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超标频点多为24M倍频,通过分析并经多次验证发现辐射源头为摄像头时钟MCKL(24M)。将MCLK线上原先串联的电阻改为展频IC(型号:SSDCP2601AF),通过对24M时钟频率做轻微调制,以分散时钟频谱能量,从而降低非期待的峰值达到抑制EMI的效果。
" A. u: |5 E/ F/ y$ V" o: `" A( X $ p3 v. f7 A+ v+ b0 b) h, {
上诉整改措施后,辐射测试有将近20db的改善,产品通过测试顺利出口国外销售。9 N. z- j, r5 \9 a( Z4 j
希望以上整改经验能对大家有所帮助,谢谢!
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