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标题: 50阻抗线换层参考电源平面的话应该如何测试才是正确？ [打印本页]

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作者: mengzhuhao    时间: 2013-12-4 08:32
标题: 50阻抗线换层参考电源平面的话应该如何测试才是正确？
50阻抗线换层参考电源平面的话应该如何测试才是正确？
5 Q! A0 O4 {2 Z- m7 C
: C1 v# G" W% c9 O: G6 k$ G假设测试一根50欧走线，从顶层到底层再到顶层，中间有地与电源参考
) I/ p+ o, |+ o50阻抗线换层参考电源平面的话，如果没有电容的是不是电源就是悬浮状了
$ ^2 b; L9 X; o# |7 S! p# W# W
这样的无源光板测试换层效果是不是有一些问题
0 u9 U  s6 n0 S) D" V0 ~( J
- h5 O1 q5 Z3 Z) N5 X' T, C5 x( l正确的方法应该是如何的呢？

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作者: eeicciee    时间: 2013-12-4 17:44
我觉得测试时应该参考最近的平面。

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作者: mengzhuhao    时间: 2013-12-4 18:56

eeicciee 发表于 2013-12-4 17:44
) n6 |( |) n# e7 z我觉得测试时应该参考最近的平面。

那类似换层的光板在测阻抗的时候是怎么考虑的呢

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作者: eeicciee    时间: 2013-12-5 10:42

mengzhuhao 发表于 2013-12-4 18:56
1 F% K0 B( W  q2 h% E那类似换层的光板在测阻抗的时候是怎么考虑的呢

9 q! l: s9 q5 T7 M; r$ h: `光板是什么板，没有接触过啊，反正用麦克斯韦去理解就行了

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作者: Ivan_GONG    时间: 2013-12-6 17:23
这个概念一直比较模糊，如果是背板的话，测试的时候还是要找最近的地来做参考   毕竟芯片用的时候还是要参考地的

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作者: jomvee    时间: 2013-12-6 17:36
这种情况裸板测试结果肯定跟实际不一样，实际情况会有去耦电容提供电源平面上回流到地平面的AC路径，另外P-G间的谐振分布也影响测试到的S参数曲线，一般比较高速的信号坚决不能这样设计走线，带来的后果就是电源地谐振频点的信号分量衰减相当严重的，SI问题自然就会出现。

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作者: mengzhuhao    时间: 2013-12-6 18:26

jomvee 发表于 2013-12-6 17:36
: {) a+ W5 f1 u/ S* S这种情况裸板测试结果肯定跟实际不一样，实际情况会有去耦电容提供电源平面上回流到地平面的AC路径，另外P- ...

如果需要测试这种效果的话，需要焊接电容到上面？

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作者: 草草    时间: 2013-12-6 21:31
没有好好考虑过这个问题哦，下次遇到俺要思考一下

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