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标题:
Current mode controller IC 产线测试容易烧毁
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作者:
dukekuo
时间:
2016-2-6 00:31
标题:
Current mode controller IC 产线测试容易烧毁
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Hi All,
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想问问大家Current mode controller IC 作Flyback架构, 产线测试时容易出现元件烧毁(Rsence, MOSFET, IC), 原因是什么呢???
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作者:
ksxd02005421
时间:
2016-2-14 22:32
同问
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